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高速検査・テーピング装置 AFIT860CE (セラミックタイプ) -アキム株式会社

AFIT860CE | 高速検査・テーピング装置 AFIT860CE (セラミックタイプ)
アキム株式会社

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返答時間

38.5時間

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対象ワーク

音叉型水晶振動子

検査内容

周波数・Ci測定・ドライブレベル

サイクルタイム

0. 3 sec/個

外形寸法

W1,400×D1,300×H1,700mm (モニタ、表示灯等除く)

この製品について

■概要

音叉型水晶振動子の電気特性検査、テーピングをターレット搬送と検査インデックスにより高速に行う装置です。

■特徴

・ターレット式搬送装置と検査インデックステーブルの組合せにより、タクト0.3秒を実現しました。 ・検査インデックステーブルには回転搬送中に周波数、インピーダンスを連続測定する検査基板を搭載しました。 ・世界最速レベルでありながら、省スペース化、 省エネルギー化を実現しています。

  • 型番

    AFIT860CE

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高速検査・テーピング装置 AFIT860CE (セラミックタイプ) AFIT860CEの性能表

商品画像 価格 (税抜) 対象ワーク 検査内容 サイクルタイム 外形寸法
高速検査・テーピング装置 AFIT860CE (セラミックタイプ) -品番-AFIT860CE 要見積もり 音叉型水晶振動子 周波数・Ci測定・ドライブレベル 0. 3 sec/個 W1,400×D1,300×H1,700mm (モニタ、表示灯等除く)

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使用用途

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最大周波数 GHz

1 - 10 10 - 20 20 - 30 30 - 40 40 - 50

周波数精度 ppm

0 - 0.1 0.1 - 0.3 0.3 - 0.5

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