制御・計測・センシング
駆動・機械要素・電子制御部品
産業別カテゴリ
電源・エネルギー・熱処理機器
安全・保護・環境対策
材料・素材・ケミカル
電気・電子部品
構造部品・締結要素
ソフトウェア・ネットワーク
サービス
その他
全てのカテゴリ
閲覧履歴
返答率
100.0%
返答時間
14.7時間
メーカー
ヤマト科学
測定繰り返し性
2.1σ 0.01 µm (シリコン酸化膜1 µm)
測定スポット径
Φ1 mm以下
データ出力形式
USBメモリにテキスト形式でエクスポート
測定方法
反射分光法 (光干渉法)
測定膜厚範囲
0.1~100 µm サンプル屈折率が1.6の場合
多層対応
最大3層
項目
Pro
外寸法 (幅×奥行×高さ)
138×198×54mm
備考 (寸法)
突起部含む
重さ
1.1kg
型番
SM-100P取扱企業
大木理工機材株式会社カテゴリ
もっと見る
膜厚計の製品167点中、注目ランキング上位6点
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
| 商品画像 | 価格 (税抜) | メーカー | 測定繰り返し性 | 測定スポット径 | データ出力形式 | 測定方法 | 測定膜厚範囲 | 多層対応 | 項目 | 外寸法 (幅×奥行×高さ) | 備考 (寸法) | 重さ | 商品コード |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
¥2,500,000 | ヤマト科学 | 2.1σ 0.01 µm (シリコン酸化膜1 µm) | Φ1 mm以下 | USBメモリにテキスト形式でエクスポート | 反射分光法 (光干渉法) | 0.1~100 µm サンプル屈折率が1.6の場合 | 最大3層 | Pro | 138×198×54mm | 突起部含む | 1.1kg |
540001 |
膜厚計の中でこの商品と同じ値をもつ製品
使用用途が半導体検査の製品
膜厚計をフィルターから探すことができます
使用用途
#塗装検査 #めっき管理 #コーティング管理 #フィルム評価 #半導体検査 #電子部品検査 #自動車部品検査 #建材検査 #印刷品質管理 #材料研究 #表面処理管理測定範囲 μm
0 - 10 10 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 5,000 5,000 - 10,000 10,000 - 10,000,000測定方式
電磁誘導式/渦電流式 電磁式 渦電流式 光熱放射法 超音波式 静磁気式 4探針電気抵抗式 電解式 蛍光X線 微小面積電解式 パルス反射式測定精度 μm
0 - 5 5 - 10 10 - 20 20 - 60 60 - 100 100 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 100データメモリ数 点
1,000 - 10,000 10,000 - 40,000 40,000 - 260,000 260,000 - 2,000,000質量 g
0 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 10,000 10,000 - 90,000
