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X線検査装置-株式会社アイビット

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X線管種類

マイクロフォーカス、 密閉型、 透過式ターゲット

X線管電圧

30 - 90kV

X線管電流

0 - 60μA

X線焦点径

5μm、 10~15μm (切替)

幾何学倍率

900倍、FOD:X線源-サンプル距離 (最小) =0.5mm、FID:X線源-受光部距離 (最大) =450mm、 450/0.5=900倍

モニター表示倍率

5,400倍、X線受光部センサ寸法:50×50mm 24インチモニター表示部寸法:300×300mm、モニターによる拡大率:300/50=6倍、幾何学倍率×表示拡大率=900×6=5,400倍

X線受像部

130万画素フラットパネル、 14bit (16,384階調)

検査トレイサイズ

330×250mm

検査領域

330×250mm

X線カメラ軸ストローク (Z1)

450mm

X線管ストローク (Z2)

140mm

X線カメラ軸傾斜角度 (Q)

0° (垂直) ~60°傾斜

モニター

24インチLCD (1,920×1,200画素)

供給電源

単相AC200~230V、 1.5kVA

装置寸法

1,000 (W) ×880 (D) ×1,350 (H) mm

装置重量

600kg

X線漏洩線量

1μSv/h以下、 X線取扱資格は不要 (国外では設置国の法令に従ってください)

この製品について

コンパクトながら、幾何学倍率900倍を達成。 リール観察機能を備えた派生モデルもラインナップ。

■特徴

・幾何学倍率:900倍 ・モニター倍率:5,400倍 ・X線出力:90kV ・X線焦点径:5μ、15μ (切替)

■検査項目

・BGAのクラック観察 ・BGAのはんだ未接続部の観察 ・ICのワイヤーボンディングの観察 ・プリント配線板の不良 ・実装基板のスルーホールX線観察 ・スルーホールのX線観察 ・ICワイヤーボンディングの観察 ・BGA検査・実装基板検査 ・LGAのはんだ接続 ・基板内層パターン

  • 型番

    FX-300tR2

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X線検査装置 FX-300tR2の性能表

商品画像 価格 (税抜) X線管種類 X線管電圧 X線管電流 X線焦点径 幾何学倍率 モニター表示倍率 X線受像部 検査トレイサイズ 検査領域 X線カメラ軸ストローク (Z1) X線管ストローク (Z2) X線カメラ軸傾斜角度 (Q) モニター 供給電源 装置寸法 装置重量 X線漏洩線量 オプション
X線検査装置-品番-FX-300tR2 要見積もり マイクロフォーカス、 密閉型、 透過式ターゲット 30 - 90kV 0 - 60μA 5μm、 10~15μm (切替) 900倍、FOD:X線源-サンプル距離 (最小) =0.5mm、FID:X線源-受光部距離 (最大) =450mm、 450/0.5=900倍 5,400倍、X線受光部センサ寸法:50×50mm 24インチモニター表示部寸法:300×300mm、モニターによる拡大率:300/50=6倍、幾何学倍率×表示拡大率=900×6=5,400倍 130万画素フラットパネル、 14bit (16,384階調) 330×250mm 330×250mm 450mm 140mm 0° (垂直) ~60°傾斜 24インチLCD (1,920×1,200画素) 単相AC200~230V、 1.5kVA 1,000 (W) ×880 (D) ×1,350 (H) mm 600kg 1μSv/h以下、 X線取扱資格は不要 (国外では設置国の法令に従ってください)

マニプレータ、 回転テーブル、 パソコンデスク、 垂直CT機能


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フィルターから探す

X線検査装置をフィルターから探すことができます

X線出力 W

0 - 100 100 - 200 200 - 300 300 - 1,600

管電圧 kV

20 - 50 50 - 100 100 - 200 200 - 250 250 - 300 300 - 400 400 - 450

搬送ベルト速度 m/min

1 - 10 10 - 20 20 - 40 40 - 60 60 - 70 70 - 90

最小解像度 μm

0 - 1 1 - 5 5 - 100 100 - 200

最大サンプル重量 kg

0 - 5 5 - 30 30 - 100

検出器タイプ

FPD ラインディテクタ ラインセンサ CMOSセンサー CdTe半導体検出器 CMOSフォトダイオード

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この商品の取り扱い会社情報

返答率

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返答時間

2.2時間

会社概要

株式会社アイビットは2000年に設立された、X線自動車検査装置の開発・製造をしている会社です。 3次元X線自動検査装置、検査の対象物を破壊することなく、製品の性質などを検査する非破壊検査機器といった機器を開発・製造して...

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  • 本社所在地: 神奈川県

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