全てのカテゴリ
閲覧履歴
返答率
100.0%
返答時間
88.3時間
チップ外観検査装置
4面/6面検査
画像処理内容
キズ・カケ・汚れ・異物・寸法検出・etc
画像処理速度
対象ワーク、画像処理内容により変わります
装置処理速度
MAX5,000個/分
処理速度について
お客様のワーク形状、検査内容に変わります
型番
OVS-6410 6610取扱企業
オカノ電機株式会社カテゴリ
もっと見る
半導体外観検査装置の製品35点中、注目ランキング上位6点
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
商品画像 | 価格 (税抜) | チップ外観検査装置 | 画像処理内容 | 画像処理速度 | 装置処理速度 | 処理速度について |
---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
要見積もり | 4面/6面検査 | キズ・カケ・汚れ・異物・寸法検出・etc | 対象ワーク、画像処理内容により変わります | MAX5,000個/分 | お客様のワーク形状、検査内容に変わります |
半導体外観検査装置の中でこの商品と同じ値をもつ製品
使用用途がチップ検査の製品
半導体外観検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#欠陥検出 #ウェハ検査 #部品検査 #表面検査 #搬送収納 #高精度検査 #チップ検査 #2D3D測定対象工程
ウェハ検査装置 パッケージ外観検査装置 ダイシング後検査装置 ワイヤボンディング検査装置検査方式
2Dビジョン検査型 3D検査型対応サイズ・形状
小型チップ対応型 大判ウェハ対応型 立体部品・BGA対応型対応ウェーハサイズ mm
50 - 150 150 - 200 200 - 300マシンサイクルタイム pcs/sec
1 - 5 5 - 10 10 - 15画像処理部構成 台
2 - 4 4 - 8処理時間 個/分
0 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 5,000