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光検出器・光電子分光用アナライザ X線/電子線 (CCD, MCPなど) 高速MCP位置/時間検出システム-株式会社東京インスツルメンツ

DLD40 | 光検出器・光電子分光用アナライザ X線/電子線 (CCD, MCPなど) 高速MCP位置/時間検出システム
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60：1

時間分解能 (ns)

<0.5

検出器直径 (mm)

94

検出器高さ (mm)

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構成品 (オプション) 標準フィードスルー

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Time to Digital Converter (TDC) TDC8HP

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HV2/4 (1または2台) またはBIASET3

この製品について

■高速MCP位置/時間検出システム

MCP検出器とディレイライン読出しによる電子、イオン、高エネルギーフォトンの検出。デジタル出力装置により位置・時間の同時計測、高速時間分解能

■製品概要

高感度MCP検出器と独自のディレイラインアノードを組合わせたフォトンカウンティングレベルの微弱な電子、イオン、X線、UV、中性子の高速位置/時間検出システムです。TAC等の外部装置なしに位置と時間の同時計測が可能です。

■ディレイラインアノード動作原理

ディレイラインアノード検出器では導線が90°に交差して (HEXタイプでは60°に交差して) 巻かれています。MCPで変換された二次電子が導線に当たると、その位置から導線の両端に向かって電荷が流れます。二次電子が当たった位置によって、導線の両端に電荷が到達する時間が異なり、この時間差が位置情報となります。 HEXシリーズでは3本の導線が巻かれているので、タイミング間隔が非常に狭い (10ns以下) multi hitの場合や、センターホール付の場合で位置情報を精度よく検出します。

■特長

・独自のディレイラインアノード方式 ・フォトンカウンティングレベルの微弱荷電粒子の位置/時間測定 ・DLDタイプ (2層ディレイライン) とHEXタイプ (3層ディレイライン) ・TAC等の外部装置なしに位置と時間の同時計測可能 ・有効検出面積40mm、80mm、120mm、150mmから選択 ・DLDタイプはマルチパルスペア分解能15 nsから10 ns ・HEXタイプは10 ns以下分解能 ・UHV対応可

■用途

・UV、X線粒子イメージング ・質量分析 (TOF、SIMS) ・電子顕微鏡 (PEEM、TOF-PEEM) ・マルチフラグメントイメージシステム ・電子分光 ・残留ガスビームプロファイルモニター ・材料科学 (RBS、RHEEM、X-ray及び中性子回折) など

  • 型番

    DLD40

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光検出器・光電子分光用アナライザ X線/電子線 (CCD, MCPなど) 高速MCP位置/時間検出システム DLD40の性能表

商品画像 価格 (税抜) MCP枚数 MCP有効径 (mm) 位置分解能 (mm) MCPアスペクト比 L/D 時間分解能 (ns) 検出器直径 (mm) 検出器高さ (mm) 構成品 (オプション) 標準フィードスルー 構成品 (オプション) CFD 構成品 (オプション) TDC 構成品 (オプション) 高圧電源
光検出器・光電子分光用アナライザ X線/電子線 (CCD, MCPなど) 高速MCP位置/時間検出システム-品番-DLD40 要見積もり 2 40 < 0.1 60：1 <0.5 94 30 FT12-TPまたはFT12-TP/100 (/xxxはマウンティングキット付) Constant fraction discriminator (CFD)
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#産業検査 #科学計測 #天体観測 #バーコード読取 #デジタル顕微鏡 #プリント検査

素子サイズ μm

5 - 10 10 - 15 15 - 20 20 - 26

ピークQE %

30 - 50 50 - 70 70 - 90 90 - 100

リードノイズ e-rms

2 - 4 4 - 7 7 - 10 10 - 15 15 - 22

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