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エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) が構成された、標準で分析が可能な分析タイプ
分解能
高真空モード3.0 nm (30 kV) 、15.0 nm (1.0 kV) 低真空モード4.0 nm (30 kV BED)
撮影倍率
×5 ~ ×300,000 (128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定)
表示倍率
×14 ~ ×839,724 (358 mm × 269 mmを表示サイズとして倍率を規定)
電子銃
Wフィラメント 完全自動ガンアライメント
入射電圧
0.3 kV ~ 30 kV
低真空圧力設定範囲
10 ~ 650 Pa
対物レンズ絞り
4段 XY微調整機能付き
自動機能
フィラメント調整、ガンアライメント調整 ビームアライメント フォーカス / 非点 / 明るさ / コントラスト調整
最大試料寸法
200 mm 径 × 75 mm 高さ 200 mm 径 × 80 mm 高さ 32 mm 径 × 90 mm 高さ
試料ステージ
大形ユーセントリック式 X:125 mm Y:100 mm Z:80 mm 傾斜:-10 ~ 90° 回転:360°
画像モード
二次電子像、REF像、組成像 凹凸像、立体像、PD像
画像サイズ
640 × 480 1,280 × 960 2,560 × 1,920 5,120 × 3,840
撮影補助機能
モンタージュ撮影、Simple SEM Zeromag、Live 3D
操作支援機能
レシピ (標準レシピ / カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、 平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション 信号深さ表示 3次元測定
OS
Microsoft® Windows®10 64bit
観察モニター
23.8型タッチパネル
データ管理
SMILE VIEW™ Lab
レポート作成ワンクリックレポート
Microsoft®Wordへの出力 Microsoft®PowerPointへの出力
排気システム
完全自動 TMP:1台 RP:1台または2台
EDS仕様 制御PC
OS:Microsoft®Windows®10 64bit
EDS仕様 対応言語
日本語 / 英語 / 中国語
EDS仕様 検出器
SDDタイプ
EDS仕様 スペクトル分析
定性分析 (ピーク同定、自動定性) ビジュアルピークID スタンダードレス定量分析 (ZAF法) スタンダード定量分析 (ZAF法) PHI-RHO-Z (PRZ) 法定量補正法 他
EDS仕様 線分析
線分析 (水平、任意方向)
EDS仕様 元素マップ
元素マップ (多色表示、単色表示、多色合成) 最大解像度 4,096×3,072 リアルタイムポップアップスペクトル 波形分離マップ (ネットカウントマップ、定量値マップ) 他
EDS仕様 連続分析
スペクトル分析・線分析・元素マップ 測定済みデータの一括解析 (定性・定量)
EDS仕様 モンタージュ
自動モンタージュ作成 (SEM像、元素マップ) 複数視野にまたがる連続元素マップ
EDS仕様 粒子解析ソフトウエア
粒子解析 (自動 / 手動) & EDS分析、粒子解析データの分類機能、 粒子解析データの統計処理のグラフ表示、広領域の連続粒子解析 & EDS分析 他
EDS仕様 報告書作成
SMILE VIEW™ Lab Microsoft®Word、Microsoft®PowerPoint への出力
EDS仕様 SEMインテグレーション
観察・分析データ一元管理 SEMの操作画面で分析位置を指定 (SEMのUI上からダイレクト分析) 分析位置のグラフィック表示
型番
JSM-IT510HR InTouchScope™ A取扱企業
コスモトレーディング株式会社カテゴリ
Metoree経由で見積もり
2024年10月4日にレビュー済み
顧客対応への満足度
週末だったため、回答があったのは入力して3日後だが、営業日換算では確かに24時間以内の回答で、説明どおりであった。
初回対応までの時間への満足度
67.00時間
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電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
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商品画像 | 価格 (税抜) | 分解能 | 撮影倍率 | 表示倍率 | 電子銃 | 入射電圧 | 低真空圧力設定範囲 | 対物レンズ絞り | 自動機能 | 最大試料寸法 | 試料ステージ | 画像モード | 画像サイズ | 撮影補助機能 | 操作支援機能 | OS | 観察モニター | データ管理 | レポート作成ワンクリックレポート | 排気システム | EDS仕様 制御PC | EDS仕様 対応言語 | EDS仕様 検出器 | EDS仕様 スペクトル分析 | EDS仕様 線分析 | EDS仕様 元素マップ | EDS仕様 連続分析 | EDS仕様 モンタージュ | EDS仕様 粒子解析ソフトウエア | EDS仕様 報告書作成 | EDS仕様 SEMインテグレーション |
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要見積もり |
高真空モード3.0 nm (30 kV) 、15.0 nm (1.0 kV) 低真空モード4.0 nm (30 kV BED) |
×5 ~ ×300,000 (128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定) | ×14 ~ ×839,724 (358 mm × 269 mmを表示サイズとして倍率を規定) | Wフィラメント 完全自動ガンアライメント | 0.3 kV ~ 30 kV | 10 ~ 650 Pa | 4段 XY微調整機能付き |
フィラメント調整、ガンアライメント調整 ビームアライメント フォーカス / 非点 / 明るさ / コントラスト調整 |
200 mm 径 × 75 mm 高さ 200 mm 径 × 80 mm 高さ 32 mm 径 × 90 mm 高さ |
大形ユーセントリック式 X:125 mm Y:100 mm Z:80 mm 傾斜:-10 ~ 90° 回転:360° |
二次電子像、REF像、組成像 凹凸像、立体像、PD像 |
640 × 480 1,280 × 960 2,560 × 1,920 5,120 × 3,840 |
モンタージュ撮影、Simple SEM Zeromag、Live 3D |
レシピ (標準レシピ / カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、 平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション 信号深さ表示 3次元測定 |
Microsoft® Windows®10 64bit | 23.8型タッチパネル | SMILE VIEW™ Lab |
Microsoft®Wordへの出力 Microsoft®PowerPointへの出力 |
完全自動 TMP:1台 RP:1台または2台 | OS:Microsoft®Windows®10 64bit | 日本語 / 英語 / 中国語 | SDDタイプ |
定性分析 (ピーク同定、自動定性) ビジュアルピークID スタンダードレス定量分析 (ZAF法) スタンダード定量分析 (ZAF法) PHI-RHO-Z (PRZ) 法定量補正法 他 |
線分析 (水平、任意方向) |
元素マップ (多色表示、単色表示、多色合成) 最大解像度 4,096×3,072 リアルタイムポップアップスペクトル 波形分離マップ (ネットカウントマップ、定量値マップ) 他 |
スペクトル分析・線分析・元素マップ 測定済みデータの一括解析 (定性・定量) |
自動モンタージュ作成 (SEM像、元素マップ) 複数視野にまたがる連続元素マップ |
粒子解析 (自動 / 手動) & EDS分析、粒子解析データの分類機能、 粒子解析データの統計処理のグラフ表示、広領域の連続粒子解析 & EDS分析 他 |
SMILE VIEW™ Lab Microsoft®Word、Microsoft®PowerPoint への出力 |
観察・分析データ一元管理 SEMの操作画面で分析位置を指定 (SEMのUI上からダイレクト分析) 分析位置のグラフィック表示 |
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