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DC～10GHzまでのデバイスの測定が可能。当社製品の中でも信頼性の高い短寸プローブピンを採用。SMAコネクタ出力のため、測定器への接続が容易です。 ■特徴 ・低コスト ・カスタム設計対応 ・一台からご発注可能
適合デバイス
DBM、RF AMP、PLL、VCO、RFモジュール など
周波数範囲
DC~18GHz
RF反射損失
DC~10GHz 10.0dB
RF挿入損失
DC~10GHz 1.0dB
耐久性
5000回以上
型番
高周波テストヘッド GURFシリーズ取扱企業
日本コネクト工業株式会社カテゴリ
レビューは全てメトリー経由で実際に見積もりをしたユーザーによるものです
5.0
評判がとても良い
2025年5月23日にレビュー
メール対応等、迅速な対応でとても満足しています。
初回返答までの時間・22.91時間2025年3月25日にレビュー
回答が早く、対応が丁寧だった。
初回返答までの時間・14.86時間2024年6月17日にレビュー
わかりやすく素早い(URL添付も)回答いただきました。
初回返答までの時間・1.23時間| 商品画像 | 価格 (税抜) | 適合デバイス | 周波数範囲 | RF反射損失 | RF挿入損失 | 耐久性 |
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要見積もり | DBM、RF AMP、PLL、VCO、RFモジュール など | DC~18GHz | DC~10GHz 10.0dB | DC~10GHz 1.0dB | 5000回以上 |
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周波数帯域 GHz
0 - 10 10 - 20 20 - 30 30 - 40 40 - 60 60 - 70 70 - 80接触抵抗 mΩ
10 - 20 20 - 30 30 - 200定格電流 A
0 - 1 1 - 2 2 - 3 3 - 4 4 - 5ピッチ mm
0 - 0.2 0.2 - 0.4 0.4 - 0.8 0.8 - 1 1 - 1.3使用温度範囲 ℃
100 - 125 125 - 150 150 - 160 160 - 180耐久性 回
100 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 5,000 5,000 - 10,000インダクタンス nH
0.01 - 0.05 0.05 - 0.1 0.1 - 0.5 0.5 - 1 1 - 2静電容量 pF
0 - 0.05 0.05 - 1
