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ICデバイス用 テストソケット システムレベルテスト-日本コネクト工業株式会社

日本コネクト工業株式会社の対応状況

返答率

100.0%

返答時間

62.6時間

型番説明

高周波帯域60GHzでの使用が可能な同軸構造のテストソケットです。コンタクト方式は当社製品の中でも信頼性の高い短寸プローブピンを採用。デバイスの端子アサインに合わせて製作いたします。

全型番で同じ値の指標

特性インピーダンス

50Ω

キャパシタンス

0.26pF (0.8mm pitch、SG9パラメータでの測定値)

プローブピンタイプ

RF/POWER/GROUND

相互インダクタンス

0.023nH~0.041nH

相互キャパシタンス

0.012pF~0.02pF

定格電流/1ピンあたり

0.2A~2A

挿入力/1ピンあたり

0.25N~0.35N

耐久性

2,000 cycle

この製品について

半導体生産の後工程で使用されるICソケットです。量産用基板を使い、半導体デバイス・回路の検証ができます。 テストソケットのカスタム設計・製造は日本コネクト工業にお任せください。特殊仕様を含め、数々のカスタム製品の開発実績がございます。下記のような情報をお知らせいただければ、最適な製品をご提案いたします。

■情報

・デバイスの寸法図 (公差情報含む、リード形状が確認できるもの) ・デバイスの受面高さなどの制限事項 ・基板面積の制限 ・センサーへの適合形状 ・耐久性 ・温度 (バーンインテスト用) 、湿度 ・使用信号周波数など ※ほかにも型番がございます。

  • 型番

    GRCシリーズ

企業レビュー 5.0

Metoree経由で見積もり

2025年3月25日にレビュー済み

顧客対応への満足度

回答が早く、対応が丁寧だった。

初回対応までの時間への満足度

14.86時間


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返答率: 100.0%


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返答率96%

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ICデバイス用 テストソケット システムレベルテスト GRCシリーズの性能表

商品画像 価格 (税抜) 適合デバイス ピッチ 使用温度範囲 接触抵抗 特性インピーダンス 周波数 キャパシタンス 自己インダクタンス プローブピンタイプ
ICデバイス用 テストソケット システムレベルテスト-品番-GRCシリーズ 要見積もり BGA、LGA、QFNなど 0.8mm (0.5mm) ~ -55℃~+120℃ 100mΩ max 50Ω -1.0dB@60GHz (0.8mm pitch、SG9パラメータでの測定値) 0.26pF (0.8mm pitch、SG9パラメータでの測定値) 0.81nH (0.8mm pitch、SG9パラメータでの測定値) RF/POWER/GROUND

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この商品の取り扱い会社情報

返答率

100.0%


返答時間

62.6時間


企業レビュー

5.0

会社概要

日本コネクト工業株式会社は、各種コネクタやテストソケット、プローブピン、プリント基板などの設計・開発・製造を行う企業です。

製品生産は国内で一貫してできる体制を持っており、顧客の細かい要望に応えるカス...

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  • 本社所在地: 東京都

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