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XYステージサンプル
メーカー
ブルカージャパン (株)
測定方式
USI方式、VSI方式、PSI方式
垂直分解能
<0.01mm
段差再現性
<0.1%
使用光源
高輝度LED (白色。緑色)
最大測定速度
37μm/秒
最大測定レンジ
最大10mm
CCDカメラタイプ
標準型モノクロ 1,200×1,000画素、カラー (オプション)
Zサンプルスペース
100mm
傾斜調整
±6°手動
制御解析ソフトウェア Vision64基本機能
自動調整 (光量、範囲) 、2D解析、3D解析、マルチリージョン解析、電動フォーカス、【オプション】Vision64Map (高機能オフライン制御解析ソフトウェア)
各種3D測定
表面形状 (粗さ) 、形状、段差
圧倒的な高さ測定ダイナミックレンジ
0.1nm~19mm
型番
Contour X-100取扱企業
三弘エマテック株式会社カテゴリ
Metoree経由で見積もり
2024年9月6日にレビュー済み
顧客対応への満足度
迅速な回答、説明があった。
初回対応までの時間への満足度
27.47時間
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微分干渉顕微鏡の製品34点中、注目ランキング上位6点
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング
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返答率96%
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | メーカー | 測定方式 | 垂直分解能 | 段差再現性 | 使用光源 | 最大測定速度 | 最大測定レンジ | CCDカメラタイプ | XYステージサンプル | Zステージ | Zサンプルスペース | 傾斜調整 | 制御解析ソフトウェア Vision64基本機能 | 各種3D測定 | 圧倒的な高さ測定ダイナミックレンジ |
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要見積もり | ブルカージャパン (株) | USI方式、VSI方式、PSI方式 | <0.01mm | <0.1% | 高輝度LED (白色。緑色) | 37μm/秒 | 最大10mm | 標準型モノクロ 1,200×1,000画素、カラー (オプション) | 150mm×150mm手動 | 100mm手動 | 100mm | ±6°手動 | 自動調整 (光量、範囲) 、2D解析、3D解析、マルチリージョン解析、電動フォーカス、【オプション】Vision64Map (高機能オフライン制御解析ソフトウェア) | 表面形状 (粗さ) 、形状、段差 | 0.1nm~19mm |
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対物レンズ
0 - 10 10 - 50 50 - 100総合倍率 倍
0 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 4,000 4,000 - 6,000ステージ mm
30 - 100 100 - 150 150 - 300
