3次元白色光干渉顕微鏡 Contour X-100/200-Contour X-100

3次元白色光干渉顕微鏡 Contour X-100/200 三弘エマテック株式会社

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この製品について

■特徴・コストパフォーマンスに優れた干渉顕微鏡のスタンダードモデル
・各種3D測定：表面形状  (粗さ) 、形状、段差
・圧倒的な高さ測定ダイナミックレンジ：0.1nm~19mm
・クローズドループ制御により高い測定再現性を実現
・試料に合わせた測定モードを標準搭載
・2種類の高輝度LEDで反射率の異なる素材にも適応
・日本語対応ソフトで誰でも簡単に操作可能
・手動、電動のセットが選択可能
・豊富なオプション群から必要な機能を拡張可能

■オプション部品タレット対応対物レンズ  (Contour X-100/200) 標準対物レンズ：2.5X、5X、10X、20X、50X、115X、光学ズームレンズ：0.55X、0.75X、1.5X、2X。シングル対応対物レンズ  (Contour X-100/200)  対物レンズアダプタ、低倍干渉対物レンズ：1.5X、長作動干渉対物レンズ：2XLWD、5XLWD、10XLWD、環境対応レンズ  (TTM型) レンズ：2XTTM、5XTTM、10XTTM、20XTTM

■装置のアップグレード  (Contour X-100/200) リアルカラーイメージングシステムの追加が可能です。干渉計測によって得られた高さ情報に加え、リアルカラー情報を同時に取得します。顕微鏡視野内で色の異なる表面の計測においてリアルカラーシステムは優れた性能を発揮します。

型番
この商品には2種類の型番があります

シリーズ
3次元白色光干渉顕微鏡 Contour X-100/200

取扱企業
三弘エマテック株式会社

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3次元白色光干渉顕微鏡 Contour X-100/200 品番2件

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まとめて問合せ・見積	商品画像	品番	価格 (税抜)	メーカー	測定方式	垂直分解能	段差再現性	使用光源	最大測定速度	最大測定レンジ	CCDカメラタイプ	XYステージサンプル	Zステージ	Zサンプルスペース	傾斜調整	制御解析ソフトウェア Vision64基本機能	各種3D測定	圧倒的な高さ測定ダイナミックレンジ
		Contour X-100	要見積もり	ブルカージャパン (株)	USI方式、VSI方式、PSI方式	<0.01mm	<0.1%	高輝度LED (白色。緑色)	37μm/秒	最大10mm	標準型モノクロ 1,200×1,000画素、カラー (オプション)	150mm×150mm手動	100mm手動	100mm	±6°手動	自動調整 (光量、範囲) 、2D解析、3D解析、マルチリージョン解析、電動フォーカス、【オプション】Vision64Map (高機能オフライン制御解析ソフトウェア)	表面形状 (粗さ) 、形状、段差	0.1nm~19mm
		Contour X-200	要見積もり	ブルカージャパン (株)	USI方式、VSI方式、PSI方式	<0.01mm	<0.1%	高輝度LED (白色。緑色)	37μm/秒	最大10mm	標準型モノクロ 1,200×1,000画素、カラー (オプション)	150mm×150mm電動	100mm電動	100mm	±6°手動	自動調整 (光量、範囲) 、2D解析、3D解析、マルチリージョン解析、電動フォーカス、【オプション】Vision64Map (高機能オフライン制御解析ソフトウェア)	表面形状 (粗さ) 、形状、段差	0.1nm~19mm