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返答率
100.0%
返答時間
46.2時間
スペクトル計測 波長範囲 (nm)
1,250 ~ 1,650
スペクトル計測 不確定波長 ※b
±0.06 d、±0.02 ※c, d
スペクトル計測 参照
Internal ※e
分解能バンド幅 (FWHM) ※f (nm)
≤ 0.10 ※d, g
波長再現性 2σ (nm)
±0.005 ※h
スペクトル計測 分析機能
WDM and drift
パワー計測 ダイナミックレンジ (dBm) ※b
–65 ※d, i to 23 dB
パワー計測 最大トータルセーフパワー (dBm)
29
パワー計測 不確定パワー (dB) ※j
±0.6
パワー計測 パワーの再現性 2σ (dB) ※h
±0.1
光学測定 1550nmにおける光除去率 (dB)
0.2 nm (25 GHz) にて:31 (35 typical) 0.4 nm (50 GHz) において:40 (45 typical)
光学測定 チャンネル間隔
33 to 200 GHz CWDM
光学測定 PDL (dB) ※k
±0.1 ※d
光学測定 ORL (dB)
> 40
光学測定 測定時間 (秒) ※d, l
< 1.2
型番
FTBx-5235取扱企業
セブンシックス株式会社カテゴリ
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商品画像 | 価格 (税抜) | スペクトル計測 波長範囲 (nm) | スペクトル計測 不確定波長 ※b | スペクトル計測 参照 | 分解能バンド幅 (FWHM) ※f (nm) | 波長再現性 2σ (nm) | スペクトル計測 分析機能 | パワー計測 ダイナミックレンジ (dBm) ※b | パワー計測 最大トータルセーフパワー (dBm) | パワー計測 不確定パワー (dB) ※j | パワー計測 パワーの再現性 2σ (dB) ※h | 光学測定 1550nmにおける光除去率 (dB) | 光学測定 チャンネル間隔 | 光学測定 PDL (dB) ※k | 光学測定 ORL (dB) | 光学測定 測定時間 (秒) ※d, l |
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要見積もり | 1,250 ~ 1,650 | ±0.06 d、±0.02 ※c, d | Internal ※e | ≤ 0.10 ※d, g | ±0.005 ※h | WDM and drift | –65 ※d, i to 23 dB | 29 | ±0.6 | ±0.1 |
0.2 nm (25 GHz) にて:31 (35 typical) 0.4 nm (50 GHz) において:40 (45 typical) |
33 to 200 GHz CWDM | ±0.1 ※d | > 40 | < 1.2 |
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使用用途
#分析解析 #研究開発 #設置保守故障診断 #可視化 #光ファイバセンシング #OSNR測定波長範囲 nm
100 - 800 800 - 1,300 1,300 - 1,800 1,800 - 3,000 3,000 - 6,000 6,000 - 13,000波長精度 nm
0 - 1 1 - 3 3 - 6波長分解能 nm
0 - 1 1 - 3 3 - 10 10 - 20 20 - 40スペクトル分解能 nm
0 - 1 1 - 10 10 - 20 20 - 40測定時間 秒
0 - 1 1 - 2 2 - 70最大光入力 dBm
0 - 20 20 - 30コネクタ
FC/APC FC/SPC FCコネクタ SMAコネクタ