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ウィンドウレスシリコンドリフト検出器センサ X-MaxN TSR-オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

X-MaxN TSR | ウィンドウレスシリコンドリフト検出器センサ X-MaxN TSR
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■概要

・TEM アプリケーション向けの本ウィンドウレスシリコンドリフト検出器センサは、0.3 ∼ 0.7 ステラジアンの範囲の検出立体角を実現することができます。 ・スペクトル範囲全体、特に軽元素の優れた検出効率は、すべてのエネルギー領域でのより多くの計数率を意味しています。 ・構成、ポールピースとTEMに依存します。 ・TEM 検出器の性能についての最も重要な測定値はその立体角になります。 ・立体角は顕微鏡とポールピースの設計によって異なります。 ・X-MaxN TSR では、立体角が最大になるように結晶と試料の間の距離を最適化しています。

■特徴

・従来の200kVフィールドエミッションTEMに最適 ・3倍の軽元素収集効率 ・妥協のない低エネルギー検出性能、ピークーバックグラウンド比、分解能

  • 型番

    X-MaxN TSR

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使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

バルク対応型 微小領域対応型

装置構成

卓上型 据置型

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は科学研究機器、半導体プロセス装置、分析機器の輸入販売・修理・買取を行っている企業です。 1991年にイギリスのオックスフォード・インストゥルメンツの日本法人として設立されま...

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