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シリコンドリフト検出器 Ultim® Max-オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

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この製品について

■概要

・Ultim Maxは、次世代のシリコンドリフト検出器 (SDD) です。 ・最大のセンサーサイズとExtremeエレクトロニクスを組み合わせることで、比類のない速度と感度を実現しています。 ・Ultim Maxの大型SDDセンサーは、精度を落とすことなく、最大17倍のデータを同時に収集することができます。 ・より広い範囲をマッピングしたい、各データポイントでより優れた統計値を取りたい、より速くデータを収集したい、あるいは最小のナノ構造を調査したいなど、Ultim MaxはSEMでのX線分析のための究極のソリューションです。 ・電動スライド機構を内蔵し、必要なときに簡単かつ迅速に挿入でき、使用しないときには格納することができます。 特徴

■Speed

ExtremeエレクトロニクスとX4パルスプロセッサーの組み合わせにより、UltimMaxは1,500,000 cpsのカウントレートでサンプルをマッピングし、400,000 cpsで組成を正確に定量化することができます。

■Sensitivity

Extremeエレクトロニクスはノイズが非常に少ないため、72eVまでのX線ラインの正確な識別と特性評価が可能になります。

■NanoAnalysis

低エネルギー分解能が保証された最大級のセンサーを搭載したUltim Maxは、低電圧での分析に最適であり、ナノスケールでの分析能力を最大限に発揮します。

■Live Chemical Imaging

Ultim Maxの大型センサーとハイスループットでの性能により、電子顕微鏡では初めてライブケミカルイメージングが可能になりました。

■同じ時間で最大17倍のデータを収集

Ultim Maxの大型SDDセンサーは、精度を落とすことなく、最大17倍のデータを同時に収集することができます。より広い範囲をマッピングしたい、各データポイントでより優れた統計データを取得したい、より速くデータを収集したい、あるいは最小のナノ構造を調査したいなど、Ultim MaxはSEMでのX線分析のための究極のソリューションです。

  • 型番

    Ultim® Max

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使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

バルク対応型 微小領域対応型

装置構成

卓上型 据置型

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は科学研究機器、半導体プロセス装置、分析機器の輸入販売・修理・買取を行っている企業です。 1991年にイギリスのオックスフォード・インストゥルメンツの日本法人として設立されま...

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