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検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置-株式会社中央電機計器製作所

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返答率

100.0%

返答時間

23.6時間

全型番で同じ値の指標

外形寸法

1,000×1,200×1,080mm

重量

400kg

測定範囲

600×400mm

被測定物の最大高さ

30mm

光学分解能

1.8μm

制御分解能

1.0μm

繰り返し位置決め精度

±5μm

光学倍率

2倍

視野範囲

6.3mm×5.0mm

モニター

TFT23.6型ワイド 解像度:1,920×1,080ピクセル

カメラ

CCD モノクロ 1インチ 画素数:900万画素

レンズ

テレセントリックレンズ WD:65mm 被写界深度:0.095mm

照明

同軸落射照明

電源

AC100V 50/60Hz

開発言語

LabVIEW

この製品について

高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査装置です。光学フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。光学分解能「1.8μm」で、非常に高精細な検査が可能です。寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。

■特徴

・検査データと画像を自動で保存 ・カメラ画素数:900万画素 ・高い光学分解能(1.8μm)で微細な検査箇所も綺麗に見える ・タッチパネルの周辺電極、プリント基板の微細配線の断線、短絡の検査に最適

■用途

・タッチパネル等の欠陥、異物などの検査に ・タッチパネル周辺電極欠陥検査 ・シート表面キズ、異物検査 ・基板欠陥検査

  • 型番

    微細欠陥検査装置

企業レビュー 5.0

Metoree経由で見積もり

2025年8月29日にレビュー済み

顧客対応への満足度

ご対応が難しいという回答のメールでしたが、対応が早く良かったです。

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検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置 微細欠陥検査装置の性能表

商品画像 価格 (税抜) 外形寸法 重量 測定範囲 被測定物の最大高さ 光学分解能 制御分解能 繰り返し位置決め精度 光学倍率 視野範囲 モニター カメラ レンズ 照明 電源 開発言語
検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置-品番-微細欠陥検査装置 要見積もり 1,000×1,200×1,080mm 400kg 600×400mm 30mm 1.8μm 1.0μm ±5μm 2倍 6.3mm×5.0mm TFT23.6型ワイド 解像度:1,920×1,080ピクセル CCD モノクロ 1インチ 画素数:900万画素 テレセントリックレンズ WD:65mm 被写界深度:0.095mm 同軸落射照明 AC100V 50/60Hz LabVIEW

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使用用途

#半導体ウェハ #金属板材 #ガラス表面 #電子部品 #フィルム表面 #プラスチック成形品 #印刷物検査 #鉄鋼表面 #医療機器部品

検出原理

光学式 レーザー式

光学方式

2Dカメラ型 3Dカメラ型 共焦点顕微鏡型

搬送方式

ロール搬送型 ステージ移動型 インライン型 オフライン型

解像度 μm

0 - 5 5 - 10 10 - 20 20 - 40

検査速度 mm/秒

0 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000

光学分解能 μm

0 - 10 10 - 200

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この商品の取り扱い会社情報

返答率

100.0%


返答時間

23.6時間


企業レビュー

5.0

会社概要

株式会社中央電機計器製作所は、1960年に設立された、テスト・計測・制御システムを開発・提供する企業です。 テスト・計測・制御システムはあらゆる産業にとって欠かせないものでありますが、同社の試験装置は、特に自動車、鉄道...

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  • 本社所在地: 大阪府

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