検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置-微細欠陥検査装置
検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置-株式会社中央電機計器製作所

検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置 株式会社中央電機計器製作所

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この製品について

高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査装置です。光学フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。光学分解能「1.8μm」で、非常に高精細な検査が可能です。寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。

■特徴

・検査データと画像を自動で保存 ・カメラ画素数:900万画素 ・高い光学分解能(1.8μm)で微細な検査箇所も綺麗に見える ・タッチパネルの周辺電極、プリント基板の微細配線の断線、短絡の検査に最適

■用途

・タッチパネル等の欠陥、異物などの検査に ・タッチパネル周辺電極欠陥検査 ・シート表面キズ、異物検査 ・基板欠陥検査

  • シリーズ

    検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置



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検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 外形寸法 重量 測定範囲 被測定物の最大高さ 光学分解能 制御分解能 繰り返し位置決め精度 光学倍率 視野範囲 モニター カメラ レンズ 照明 電源 開発言語
検査データと画像を自動で保存 微細欠陥検査装置-品番-微細欠陥検査装置

微細欠陥検査装置

要見積もり 1,000×1,200×1,080mm 400kg 600×400mm 30mm 1.8μm 1.0μm ±5μm 2倍 6.3mm×5.0mm TFT23.6型ワイド 解像度:1,920×1,080ピクセル CCD モノクロ 1インチ 画素数:900万画素 テレセントリックレンズ WD:65mm 被写界深度:0.095mm 同軸落射照明 AC100V 50/60Hz LabVIEW

のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。

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会社概要

株式会社中央電機計器製作所は、1960年に設立された、テスト・計測・制御システムを開発・提供する企業です。 テスト・計測・制御システムはあらゆる産業にとって欠かせないものでありますが、同社の試験装置は、特に自動車、鉄道...

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  • 本社所在地: 大阪府
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