シナジーオプトシステムズ株式会社

■概要 高出力レーザ用NFP・FFP同時計測光学系M-Scope type HDは、出力～10Wクラス高出力青色レーザのNFP計測とFFP計測を同一光学系にて...

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■概要 ワイドエリアFFP (ファーフィールドパターン) 計測装置は、計測対象光束径約3mmのワイドエリアFFP光学系 M-Scope type FWを使用し...

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■概要 InGaAs高分解能SWIR検出器ISA041HRAは、400nm～1,700nmの可視~短波赤外波長域に広い感度波長域を有するSXGA高分解能型InGaAs固体...

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■概要 NFP/FFP同時観察計測装置は、NFP計測 (近視野像観察) とFFP計測 (遠視野像観察) を同一の光学系で実現した装置です。従来、NFP計...

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■概要 光導波路光学特性測定装置は、光導波路デバイスの挿入損失・NFP・FFP・偏光などの光学特性を測定する装置です。シリコンフォトニ...

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■概要 コリメート光計測光学系M-Scope type Cは、コリメータレンズモジュール等のコリメート光の拡がり角度 (平行度) 測定用光学系です...

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■概要 コリメート光計測装置は、コリメータモジュール等の出射光の状態 (コリメート光状態) を高分解能かつリアルタイムで観察・計測す...

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■概要 光学系方式超微細導波路損失測定装置は、当社の簡易型光計測用光学系M-Scope type Jを使用した、光学系方式の超微細導波路用挿入...

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■概要 ワイドエリア拡張型FFP (ファーフィールドパターン) 計測装置は、計測対象光束径約4.24mmのワイドエリアFFP光学系 M-Scope type F...

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■概要 光ビーム解析モジュールAP013は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル計測をはじめ、NFP・FFP・コリメー...

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■概要 FFP計測光学系M-Scope type Fは、光学系+画像処理方式による放射角度 (FFP:ファーフィールドパターン) 計測光学系です。専用光学...

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■概要 赤外高分解能型FFP計測光学系M-Scope type FHRは、光学系+画像処理方式による放射角度 (FFP:ファーフィールドパターン) 計測光学...

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■概要 YAGレーザマイクロスポット溶接用レーザ照射光学系は、光モジュールや精密部品等を高精度でYAGレーザ溶接固定するためのYAGレーザ...

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■概要 InGaAs高感度SWIR検出器ISA041H2は、950nm～1,700nmの短波赤外波長域に高い感度を有するInGaAs固体撮像素子内蔵のSWIR検出器です...

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■概要 FFP (ファーフィールドパターン) 計測装置は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール等のFFP (ファーフィールドパタ...

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■概要 光学系方式光導波路挿入損失測定装置は、当社の超小型光計測光学系M-Scope type Mを使用した、光学系方式の光導波路挿入損失測定...

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■概要 高出力レーザ用NFP計測光学系M-Scope type HLは、出力~10Wクラス高出力レーザの発光ビームプロファイル計測に最適な、高出力レー...

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• 光学測定器

■概要 簡易型光計測用光学系M-Scope type Jは、光照射計測・受光計測用の光計測用光学系です。単眼仕様の小型筐体で、装置への組込用途...

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■概要 光ビームNFP計測装置は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析ま...

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• 光学測定器

■概要 集積型光アクティブモジュール実装組立装置は、高い伝送性能・低消費電力・超小型の次世代高集積光トランシーバモジュールとして...

• FA機器

• 自動組立機

■概要 IVL測定モジュール PMD002/IVLは、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を簡単 に測定可能な測光モジュールです。センサは18mm...

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• 光学測定器

■概要 モード選択励振光学系M-Scope type MLは、測定光源の特定モード (特定入射角成分) を選択的に被測定光ファイバに導入する特殊励振...

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• 光学測定器

■概要 1インチ高精度CMOS検出器ISA061は、可視域～1,100nm波長域用高解像度CMOS検出器です。撮像素子には、2,048×2,048画素・近赤外特性...

• カメラ

• CMOSカメラモジュール

■概要 InGaAs高分解能SWIR検出器ISA041HRVAは、400nm～1,700nmの可視~短波赤外波長域に広い感度波長域を有するVGA画素高分解能型InGaAs...

• 測定機器

• 光学測定器

■概要 レーザ計測用InGaAs高分解能SWIR検出器ISA041HRA/GLは、400nm～1,700nmの可視~短波赤外波長域に広い感度波長域を有するカバーガラ...

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• 光学測定器

■概要 EF (エンサークルドフラックス) /EAF (エンサークルドアンギュラーフラックス) 計測装置は 、光ファイバ端面のNFP画像 (ニアフィ...

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• 光学測定器

■概要 ウエハレベル発光素子特性測定装置は、VCSEL等各種発光素子の電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステムです。VCSELの...

• 検査装置

• 半導体検査装置

■概要 偏光測定モジュールPMD002/POLは、空間偏光子回転方式の偏光消光比測定モジュールです。コリメートされた入射光の偏光状態を直接...

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• 光学測定器

■概要 NFP/FFP同時計測光学系M-Scope type Dは、NFP計測 (近視野像観察) とFFP計測 (放射角度分布像観察) を単一光学系で同時に計測・観...

• 測定機器

• 光学測定器

■概要 超小型光計測用光学系M-Scope type Mは、照射位置観察用同軸観察カメラを装備した、超小型タイプの光ビーム照射・受光計測用光学...

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