JFEテクノリサーチ株式会社の会社概要・製品情報
会社概要
ナノ領域から大型構造物まで幅広い対象において、最新の分析・試験設備を用い、信頼性の高い解析・評価・調査技術をご提供いたします。経験豊富な500人の技術スタッフが、"ものづくり"のあらゆる場面での技術課題解決のお手伝いをいたします。
事業内容
金属材料評価、樹脂・複合材料評価、メディカル分野の各種試験評価、磁性材料・モータ評価、電池・電池材料評価、電子部品・電子デバイス評価、社会インフラ維持管理・大型構造物評価
○環境技術
カーエレクトロニクス製品の環境耐久性評価・分析・解析技術、カーボンニュートラル推進支援サービス、耐候性評価
○設計・開発支援
設備・プロセスの試験・設計・製作、触媒の評価と開発支援、バイオマスの利用と評価
会社沿革
JFEテクノリサーチ株式会社の取り扱い製品
JFEテクノリサーチ株式会社の製品が5件登録されています。
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JFEテクノリサーチ株式会社
膜厚分布測定装置FiDiCa® Sシリーズ 標準モデル
30人以上が見ています
■膜厚分布を非接触で高速・高精度に測定・可視化 ・半導体やフィルム、液膜などの膜厚分布を非接触で高速・高精度にマッピングできる、2...
JFEテクノリサーチ株式会社
膜厚分布測定装置FiDiCa® Dシリーズ 広レンジモデル FDC-D30HU
30人以上が見ています
■膜厚分布を非接触で高速・高精度に測定・可視化 ・半導体やフィルム、液膜などの膜厚分布を非接触で高速・高精度にマッピングできる、2...
JFEテクノリサーチ株式会社
膜厚分布測定装置FiDiCa® Hシリーズ 高分解能モデル FDC-H1510
20人以上が見ています
■膜厚分布を非接触で高速・高精度に測定・可視化 ・半導体やフィルム、液膜などの膜厚分布を非接触で高速・高精度にマッピングできる、2...
JFEテクノリサーチ株式会社
膜厚分布測定装置FiDiCa® Wシリーズ ウェブ検査用モデル
20人以上が見ています
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■膜厚分布を非接触で高速・高精度に測定・可視化 ・半導体やフィルム、液膜などの膜厚分布を非接触で高速・高精度にマッピングできる、2...
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会社基本情報
| 郵便番号 | 〒100-0004 |
|---|---|
| 本社住所 | 東京千代田区大手町一丁目6番1号 大手町ビル4 階 |
| 創業年 | 2004年 |
| 資本金 | 100,000,000円 |
| 従業員数 | 1,412人 |
| リンク | JFEテクノリサーチ株式会社 ホームページ |
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