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リガクのX線分析装置

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60 点の製品

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株式会社リガク

X線検査装置 ハイコントラストモデル 1417WGB/1012WGB/0412WGB/0412DGA

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

ピクセルサイズ127μm、防塵、防水を兼ね備え、オールインパッケージ ■「ガス工作物技術基準の解釈例」にデジタルラジオグラフィーの追...


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株式会社リガク

半導体評価用波長分散型蛍光X線分析装置 薄膜評価用蛍光X線分析装置 AZX 400

最新の閲覧: 17時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■薄膜評価用蛍光X線分析装置 半導体材料として重要なB、C、N、Oを含む、Be~Uまでの全元素を1台でカバー ■波長分散型蛍光X線分析 (WDX)...


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株式会社リガク

単結晶X線構造解析装置 単結晶構造解析 統合プラットフォーム CrysAlisᴾʳᵒ

最新の閲覧: 8時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

単結晶X線回折データ収集・処理・構造解析までの統合ソフトウェア ■統合プラットフォーム CrysAlisProは、無機結晶や有機結晶はもとよ...


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株式会社リガク

X線検査装置 検出器にFXG-DRを採用したデジタルX線検査装置システム DR-Lab

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■圧倒的に早い撮影時間 フィルムに比べ撮影時間が短縮され、ハイスループットの検査に最適です。撮影数秒後で画像表示することが可能で...


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単結晶X線構造解析装置 高分解能光子計数X線検出器 EIGER2 R Series (旧製品)

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■EIGER2Rseries EIGER2R検出器には、CdTeまたはSiセンサーが付属しています。高圧や電荷密度の研究など、高エネルギー (Agなど) 放射線...


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株式会社リガク

X線検査装置 高分解能モデル EXT2430G HR/EXT2430G FINE

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

ピクセルサイズ76μmの高分解能DDAがより鮮明な画像を提供します。 ■「ガス工作物技術基準の解釈例」にデジタルラジオグラフィーの追加 ...


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株式会社リガク

結晶方位測定装置 自動ウェーハ結晶面方位測定X線装置 FSAS II

最新の閲覧: 8時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

ウェーハの主面の切断角度、OF・ノッチ位置を自動で測定する装置です。 ■特長 ・真空チャック方式で試料を保持します。0°,90°,180°,270...


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結晶方位測定装置 自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III

最新の閲覧: 6時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■単結晶材料の切り出し方位を、ワイヤソーその他の切断機に正確に伝えます Si、Ge、GaAs、SiC、水晶、LN、LT、サファイヤ、ルチル、蛍石...


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X線検査装置 モバイル型イメージングプレートスキャナー HD-CR 35 NDT

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■高い検査精度が求められる自動車・航空機部品検査等、幅広い用途に適合 世界基準を満たし、圧倒的な販売実績を誇る、ドイツDÜRRNDT社の...


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波長分散型蛍光X線分析装置 波長分散型蛍光X線塩素分分析計 Micro-Z CL

最新の閲覧: 1時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

石油製品中の塩素の高感度分析ができる卓上波長分散型蛍光X線分析装置 ■塩素分析に最適な光学系を搭載 ・高感度な両湾曲分光結晶を採用...


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波長分散型蛍光X線分析装置 蛍光X線硫黄分分析計 Micro-Z ULS

最新の閲覧: 8時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

ASTMD2622による石油燃料中の超低硫黄測定ができる卓上波長分散型蛍光X線分析装置 ■硫黄の高感度分析を追求した最新光学系を搭載 ・新...


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X線回折装置 デスクトップX線回折装置 MiniFlex

最新の閲覧: 17時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■上位機種に迫る高分解能・高角度精度・高PB比の多目的粉末X線回折分析装置 短時間測定が当たり前に。従来のシンチレーションカウンター...


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エネルギー分散型蛍光X線分析装置 進化した元素分析装置 NEX CG II Series

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

次世代偏光光学系エネルギー分散型蛍光X線分析装置 ■進化した元素分析装置 NEXCGIISeriesは、分析精度を重視した偏光光学系のエネルギ...


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エネルギー分散型蛍光X線分析装置 製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適したエネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■少量粉末試料の分析に 粉末であれば試料量はミクロスパーテルに一杯で十分です。直接励起方式の光学系により最小径1mmの少量試料でも感...


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エネルギー分散型蛍光X線分析装置 非常に小型で扱いやすい、エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■超コンパクト 331mm (W) ×432mm (D) ×376mm (H) 重さ:16kgデータ解析用コンピューター、サーマルプリンターを内蔵。 ■様々なサンプル...


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エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC+に半定量分析等,高機能ソフトウェアを搭載したPCモデル NEX QC+ QuantEZ

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■超コンパクト 331mm (W) ×432mm (D) ×376mm (H) 重さ:16kg ■高機能ソフトウェア搭載 半定量分析など高機能ソフトウェアを搭載したPC...


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携帯型蛍光X線分析計 Niton 携帯型成分分析計 XL2/XL3t/XL5シリーズ Niton XL Series (Metal)

最新の閲覧: 17時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (合金・純金属用) ・コンパクトな防塵・防滴仕様でどんな現場でも成分分析 ・微量元素・...


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携帯型蛍光X線分析計 Niton 携帯型成分分析計 XL2/XL3t/XL5シリーズ (RoHS/ハロゲン規制用)

10人以上が見ています

最新の閲覧: 2時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (RoHS/ハロゲン規制用) ・コンパクトな防塵・防滴仕様でどんな現場でも成分分析 ・高感度...


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携帯型蛍光X線分析計 Niton 携帯型成分分析計 XL2/XL3t/XL5シリーズ (鉱物・土壌・各種素材用)

最新の閲覧: 2時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (鉱物・土壌・各種素材用) 微量元素・軽元素対応機種がさらに高感度化され、目的元素を短...


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反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール ハイブリッドXRFおよび光計測FABツール ONYX 3000

最新の閲覧: 2時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■ハイブリッドXRFおよび光計測FABツール 300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能なエネルギ...


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反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール インラインデュアルヘッドマイクロスポットXRF ONYX 3200

最新の閲覧: 15時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■非破壊ウェーハ検査と計測 ・デュアルX線源 (ポリキャピラリー/モノクロマチック) ・300mmウェーハまで対応 ■概要 ONYX3200は、市場...


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単結晶X線構造解析装置 高輝度マイクロフォーカス封入管X線源 PhotonJetMAX-S

最新の閲覧: 17時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

PhotonJetMAX-SはXtaLABSynergy-Sに搭載可能な最新のマイクロフォーカス封入管X線源です。管球からのX線光子を集光する光学系技術の向上...


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X線検査装置 インバーター方式工業用ポータブルX線装置 RF-1310CP

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■最新のインバーター技術と独自の高電圧技術により、「小型・軽量化」「高い透過能力」および「省エネ」を実現 RF-1310CPは低エネルギー...


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X線検査装置 工業用ポータブルX線装置 RF-200EGM2

最新の閲覧: 7時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■現場での撮影に、優れた操作性と堅牢性 現場での撮影作業には、優れた操作性と堅牢性が求められます。これを実現したのがRF-EGM2シリー...


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X線検査装置 工業用ポータブルX線装置 RF-200SPS

最新の閲覧: 2時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■軽量・小型で高所/狭所の検査に最適 RadioflexRF-200SPSは、建物のメンテナンス、狭い場所や高い場所にあるコンクリートや配筋/配管の...


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X線検査装置 工業用ポータブルX線装置 RF-250EGM2

最新の閲覧: 6時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

現場での撮影作業には、優れた操作性と堅牢性が求められます。これを実現したのがRF-EGM2シリーズです。X線発生器は、納入実績に裏付け...


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X線検査装置 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズの標準機 X線異物検査装置 RV-5020

最新の閲覧: 15時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズの標準機 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズの標準機です。L型...


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X線検査装置 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ X線異物検査装置 RV-5020DV

最新の閲覧: 3時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズに2方向2画面同時検査装置...


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株式会社リガク

X線検査装置 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ X線異物検査装置 RV-6030DV

最新の閲覧: 3時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■2方向同時照射2画面表示機能 ラインセンサーを2つ搭載し、1回の検査で0°と25°の撮影画像が取得できます。また、2画面個別に明るさやコ...


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株式会社リガク

X線検査装置 モバイル型イメージングプレートスキャナー ScanX Discover

最新の閲覧: 8時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■軽量でありながら堅牢な屋外使用に適したイメージングプレートスキャナー (CR) 世界基準を満たし、圧倒的な販売実績を誇る、ドイツDÜR...


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波長分散型蛍光X線分析装置 ハイスループット、高精度分析が可能な多元素同時型の蛍光X線分析装置 Simultix15

最新の閲覧: 9時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■ハイスループット、高精度分析 高速試料搬送システムと高速データ処理、強力かつ安定なX線により、走査型装置と比べて高精度かつ短時間...


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株式会社リガク

X線回折装置 全自動多目的X線回折装置 SmartLab

10人以上が見ています

最新の閲覧: 15時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を搭載した多目的X線回折装置 SmartLabは、幅広い分析手法や各種材料に最適な測定テクニッ...


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株式会社リガク

X線回折装置 全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載し、究極の自動化を実現 経験がなくてもさまざまな粉末X線回折測定ができる。...


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波長分散型蛍光X線分析装置 Supermini200

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■高出力200WのX線管を搭載し鉱物資源分析から環境分析まで広範囲なアプリケーションに対応 コンパクトサイズでありながら高出力200WのX...


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株式会社リガク

高分解能X線回折装置 薄膜特性を分析するためのX線回折を使用したインラインモニタリングおよび制御 TFXRD シリーズ TFXRD-200

10人以上が見ています

最新の閲覧: 9時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■最大200mmウェーハのフルマッピング用X線回折 (XRD) システム TFXRD-200は、大口径ウェーハ上の薄膜の測定を目的とした専用のXRDツール...


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高分解能X線回折装置 薄膜特性を分析するためのX線回折を使用したインラインモニタリングおよび制御 TFXRD シリーズ TFXRD-300

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■300mmウェーハのフルマッピング用X線回折 (XRD) システム TFXRD-300は、大口径ウェーハ上の薄膜の測定を目的とした専用のXRDツールであ...


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全反射蛍光X線分析装置 軽元素Naから重元素Uまでの汚染元素を極微量で分析 TXRF 310Fab

最新の閲覧: 2時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメータを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封入...


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全反射蛍光X線分析装置 ウェーハ表面上の汚染を非破壊・非接触で高感度に分析 TXRF 3760

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメーターを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封...


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全反射蛍光X線分析装置 軽元素Naから重元素Uまでの汚染元素を極微量で分析 TXRF-V310

最新の閲覧: 2時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメータを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封入...


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半導体評価用波長分散型蛍光X線分析装置 薄膜評価用蛍光X線分析装置 WAFER/DISK ANALYZER 3650

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■各種薄膜の膜厚と組成を、同時に、非破壊、非接触で分析 ~200mmサイズまでのウェーハ上の各種薄膜の膜厚と組成を、同時に、非破壊、非...


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半導体評価用波長分散型蛍光X線分析装置 薄膜評価用蛍光X線分析装置 WaferX 310

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能な波長分散型蛍光X線分析装置 (WD-XRF) GEM300に対...


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反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール X線膜厚・密度測定装置 XHEMIS EX-2000

最新の閲覧: 3時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■X線膜厚・密度測定装置XHEMISEX-2000 蛍光X線 (XRF) およびX線反射率 (XRR) による非接触、非破壊な膜厚・密度測定装置 ■XRR新光学系...


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全反射蛍光X線分析装置 TXRFスペクトロメーター XHEMIS TX-3000

10人以上が見ています

最新の閲覧: 5時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■TXRFスペクトロメーター ・超高速金属汚染マッピング ・300mmウェーハまで対応


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全反射蛍光X線分析装置 VPD内蔵TXRFスペクトロメーター XHEMIS TX-3000V

最新の閲覧: 7時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■VPD内蔵TXRFスペクトロメーター ・超高速金属汚染マッピング ・VPDによる最高感度 ・300mmウェーハまで対応


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X線トポグラフィ装置 ハイスループット&高分解能X線トポグラフイメージングシステム XRTmicron

10人以上が見ています

最新の閲覧: 9時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■非破壊で転位などの結晶欠陥、表面への貫通転位やエピタキシャル層の欠陥などを検出 新しい高輝度微小X線光源とそれに合わせた特殊X線...


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単結晶X線構造解析装置 デスクトップ単結晶X線構造解析装置 XtaLAB mini II

最新の閲覧: 4時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

1光子検出型ハイブリッドピクセル検出器を搭載した卓上型単結晶X線構造解析装置 ■最先端2次元半導体検出器を搭載 XtaLABminiIIは、光子...


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単結晶X線構造解析装置 2波長線源対応回転対陰極線源搭載 超高速・超高精度 単結晶X線構造解析装置

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■波長の異なる線源を1台のシステムに搭載したXtaLABSynergyシリーズの最上位機種 2波長線源を搭載した単結晶X線構造解析装置は、無機物...


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単結晶X線構造解析装置 マイクロフォーカス封入管システム 搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-i

最新の閲覧: 11時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■低分子試料の構造解析のための単結晶X線回折装置 XtaLABSynergy-iは、リガク独自の高精度κゴニオメーターとHPC (ハイブリッドフォトン...


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単結晶X線構造解析装置 回転対陰極線源搭載 超高速・超高精度 単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-R

最新の閲覧: 15時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■単結晶X線回折分析のための強力で高速なシステム XtaLABSynergy-Rは、XtaLABSynergyシリーズのマイクロフォーカス回転対陰極型X線線源...


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単結晶X線構造解析装置 高輝度マイクロフォーカス封入管X線源搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-S

最新の閲覧: 5時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■低分子・生体高分子構造解析のための高速単結晶X線回折装置 XtaLABSynergy-Sは、低分子、生体高分子の区別なく、使用する方の目的達成...


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CD SAXS XTRAIA CD シリーズ 斜入射X線CD計測ツール XTRAIA CD-3010G

最新の閲覧: 6時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■斜入射X線CD計測ツール ・GISAXSによるCD測定、X線反射率 (XRR) 測定による膜厚、密度、および粗さの測定などが可能です。 ・300mmウェ...


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CD SAXS XTRAIA CD シリーズ 透過X線CD計測ツール XTRAIA CD-3200T

最新の閲覧: 6時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■透過X線CD計測ツール ・TSAXSは、CD測定のためのインライン小角X線散乱法です。 ・最大300mmウェーハまで対応 ・最先端のデバイスマイ...


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反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール XRR、EDXRF、およびXRD計測ツール XTRAIA MF-2000

10人以上が見ています

最新の閲覧: 15時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■XRR、EDXRF、およびXRD計測ツール 組成および膜厚 (EDXRF) 、膜厚、密度、および粗さ (XRR) について、未パターン化およびパターン化さ...


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反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学ツール インラインX線膜厚・密度モニター XTRAIA MF-3000 (MFM310)

最新の閲覧: 15時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■パターンウェーハ対応の蛍光X線 (XRF) 、X線反射率 (XRR) およびX線回折 (XRD) によるインライン膜厚・密度モニター リガクのXTRAIAMF-...


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高分解能X線回折装置 XTRAIA XDシリーズ インラインHRXRD/XRR計測ツール XTRAIA XD-3200

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...


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高分解能X線回折装置 XTRAIA XDシリーズ インラインHRXRD/XRR計測ツール XTRAIA XD-3300

最新の閲覧: 7時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...


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波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 充実した安心・安全の機構や機能を搭載 ZSX Primus III NEXT

最新の閲覧: 2時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

上面照射方式を採用し、生産管理分析に威力を発揮できる走査型蛍光X線分析装置 ■上面照射方式 試料の上方からX線を照射する方式のため...


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波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

ルーチン分析に安心してお使いいただける上面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置です。測定・解析をサポートする“ZSXGuidance”を備え、...


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波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IVi

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■アプリケーションの共有化が容易 上面照射タイプZSXPrimusIVと下面照射タイプZSXPrimusIViとのハード・ソフトウェアの共通プラットフォ...


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波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus400

最新の閲覧: 4時間前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■多彩なアダプターにより、様々な形状の試料や、多試料の測定にも対応できる蛍光X線分析装置 大径試料 (φ400mm×50mm) をそのまま測定で...


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