リガクのX線分析装置

ピクセルサイズ127μm、防塵、防水を兼ね備え、オールインパッケージ ■「ガス工作物技術基準の解釈例」にデジタルラジオグラフィーの追...

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■薄膜評価用蛍光X線分析装置 半導体材料として重要なB、C、N、Oを含む、Be～Uまでの全元素を1台でカバー ■波長分散型蛍光X線分析 (WDX)...

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単結晶X線回折データ収集・処理・構造解析までの統合ソフトウェア ■統合プラットフォーム CrysAlisProは、無機結晶や有機結晶はもとよ...

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■圧倒的に早い撮影時間 フィルムに比べ撮影時間が短縮され、ハイスループットの検査に最適です。撮影数秒後で画像表示することが可能で...

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■EIGER2Rseries EIGER2R検出器には、CdTeまたはSiセンサーが付属しています。高圧や電荷密度の研究など、高エネルギー (Agなど) 放射線...

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ピクセルサイズ76μmの高分解能DDAがより鮮明な画像を提供します。 ■「ガス工作物技術基準の解釈例」にデジタルラジオグラフィーの追加 ...

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ウェーハの主面の切断角度、OF・ノッチ位置を自動で測定する装置です。 ■特長 ・真空チャック方式で試料を保持します。0°,90°,180°,270...

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■単結晶材料の切り出し方位を、ワイヤソーその他の切断機に正確に伝えます Si、Ge、GaAs、SiC、水晶、LN、LT、サファイヤ、ルチル、蛍石...

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■高い検査精度が求められる自動車・航空機部品検査等、幅広い用途に適合 世界基準を満たし、圧倒的な販売実績を誇る、ドイツDÜRRNDT社の...

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石油製品中の塩素の高感度分析ができる卓上波長分散型蛍光X線分析装置 ■塩素分析に最適な光学系を搭載 ・高感度な両湾曲分光結晶を採用...

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ASTMD2622による石油燃料中の超低硫黄測定ができる卓上波長分散型蛍光X線分析装置 ■硫黄の高感度分析を追求した最新光学系を搭載 ・新...

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■上位機種に迫る高分解能・高角度精度・高PB比の多目的粉末X線回折分析装置 短時間測定が当たり前に。従来のシンチレーションカウンター...

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次世代偏光光学系エネルギー分散型蛍光X線分析装置 ■進化した元素分析装置 NEXCGIISeriesは、分析精度を重視した偏光光学系のエネルギ...

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■少量粉末試料の分析に 粉末であれば試料量はミクロスパーテルに一杯で十分です。直接励起方式の光学系により最小径1mmの少量試料でも感...

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■超コンパクト 331mm (W) ×432mm (D) ×376mm (H) 重さ：16kgデータ解析用コンピューター、サーマルプリンターを内蔵。 ■様々なサンプル...

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■超コンパクト 331mm (W) ×432mm (D) ×376mm (H) 重さ：16kg ■高機能ソフトウェア搭載 半定量分析など高機能ソフトウェアを搭載したPC...

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■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (合金・純金属用) ・コンパクトな防塵・防滴仕様でどんな現場でも成分分析 ・微量元素・...

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■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (RoHS/ハロゲン規制用) ・コンパクトな防塵・防滴仕様でどんな現場でも成分分析 ・高感度...

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■Niton携帯型成分分析計XL2/XL3t/XL5シリーズ (鉱物・土壌・各種素材用) 微量元素・軽元素対応機種がさらに高感度化され、目的元素を短...

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■ハイブリッドXRFおよび光計測FABツール 300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能なエネルギ...

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■非破壊ウェーハ検査と計測 ・デュアルX線源 (ポリキャピラリー/モノクロマチック) ・300mmウェーハまで対応 ■概要 ONYX3200は、市場...

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PhotonJetMAX-SはXtaLABSynergy-Sに搭載可能な最新のマイクロフォーカス封入管X線源です。管球からのX線光子を集光する光学系技術の向上...

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■靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズの標準機 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズの標準機です。L型...

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■靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズに2方向2画面同時検査装置...

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■2方向同時照射2画面表示機能 ラインセンサーを2つ搭載し、1回の検査で0°と25°の撮影画像が取得できます。また、2画面個別に明るさやコ...

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■軽量でありながら堅牢な屋外使用に適したイメージングプレートスキャナー (CR) 世界基準を満たし、圧倒的な販売実績を誇る、ドイツDÜR...

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■ハイスループット、高精度分析 高速試料搬送システムと高速データ処理、強力かつ安定なX線により、走査型装置と比べて高精度かつ短時間...

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■装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を搭載した多目的X線回折装置 SmartLabは、幅広い分析手法や各種材料に最適な測定テクニッ...

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■リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載し、究極の自動化を実現 経験がなくてもさまざまな粉末X線回折測定ができる。...

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■高出力200WのX線管を搭載し鉱物資源分析から環境分析まで広範囲なアプリケーションに対応 コンパクトサイズでありながら高出力200WのX...

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■最大200mmウェーハのフルマッピング用X線回折 (XRD) システム TFXRD-200は、大口径ウェーハ上の薄膜の測定を目的とした専用のXRDツール...

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■300mmウェーハのフルマッピング用X線回折 (XRD) システム TFXRD-300は、大口径ウェーハ上の薄膜の測定を目的とした専用のXRDツールであ...

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■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメータを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封入...

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■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメーターを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封...

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■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメータを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封入...

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■各種薄膜の膜厚と組成を、同時に、非破壊、非接触で分析 ～200mmサイズまでのウェーハ上の各種薄膜の膜厚と組成を、同時に、非破壊、非...

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■300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能な波長分散型蛍光X線分析装置 (WD-XRF) GEM300に対...

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■X線膜厚・密度測定装置XHEMISEX-2000 蛍光X線 (XRF) およびX線反射率 (XRR) による非接触、非破壊な膜厚・密度測定装置 ■XRR新光学系...

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■TXRFスペクトロメーター ・超高速金属汚染マッピング ・300mmウェーハまで対応

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■VPD内蔵TXRFスペクトロメーター ・超高速金属汚染マッピング ・VPDによる最高感度 ・300mmウェーハまで対応

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■非破壊で転位などの結晶欠陥、表面への貫通転位やエピタキシャル層の欠陥などを検出 新しい高輝度微小X線光源とそれに合わせた特殊X線...

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1光子検出型ハイブリッドピクセル検出器を搭載した卓上型単結晶X線構造解析装置 ■最先端2次元半導体検出器を搭載 XtaLABminiIIは、光子...

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■波長の異なる線源を1台のシステムに搭載したXtaLABSynergyシリーズの最上位機種 2波長線源を搭載した単結晶X線構造解析装置は、無機物...

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■低分子試料の構造解析のための単結晶X線回折装置 XtaLABSynergy-iは、リガク独自の高精度κゴニオメーターとHPC (ハイブリッドフォトン...

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■単結晶X線回折分析のための強力で高速なシステム XtaLABSynergy-Rは、XtaLABSynergyシリーズのマイクロフォーカス回転対陰極型X線線源...

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■低分子・生体高分子構造解析のための高速単結晶X線回折装置 XtaLABSynergy-Sは、低分子、生体高分子の区別なく、使用する方の目的達成...

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■斜入射X線CD計測ツール ・GISAXSによるCD測定、X線反射率 (XRR) 測定による膜厚、密度、および粗さの測定などが可能です。 ・300mmウェ...

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■透過X線CD計測ツール ・TSAXSは、CD測定のためのインライン小角X線散乱法です。 ・最大300mmウェーハまで対応 ・最先端のデバイスマイ...

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■XRR、EDXRF、およびXRD計測ツール 組成および膜厚 (EDXRF) 、膜厚、密度、および粗さ (XRR) について、未パターン化およびパターン化さ...

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■パターンウェーハ対応の蛍光X線 (XRF) 、X線反射率 (XRR) およびX線回折 (XRD) によるインライン膜厚・密度モニター リガクのXTRAIAMF-...

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■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...

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■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...

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上面照射方式を採用し、生産管理分析に威力を発揮できる走査型蛍光X線分析装置 ■上面照射方式 試料の上方からX線を照射する方式のため...

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ルーチン分析に安心してお使いいただける上面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置です。測定・解析をサポートする“ZSXGuidance”を備え、...

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■アプリケーションの共有化が容易 上面照射タイプZSXPrimusIVと下面照射タイプZSXPrimusIViとのハード・ソフトウェアの共通プラットフォ...

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■多彩なアダプターにより、様々な形状の試料や、多試料の測定にも対応できる蛍光X線分析装置 大径試料 (φ400mm×50mm) をそのまま測定で...

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