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株式会社リガク
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■ハイブリッドXRFおよび光計測FABツール 300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能なエネルギ...
株式会社リガク
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■非破壊ウェーハ検査と計測 ・デュアルX線源 (ポリキャピラリー/モノクロマチック) ・300mmウェーハまで対応 ■概要 ONYX3200は、市場...
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■XRR、EDXRF、およびXRD計測ツール 組成および膜厚 (EDXRF) 、膜厚、密度、および粗さ (XRR) について、未パターン化およびパターン化さ...
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次世代偏光光学系エネルギー分散型蛍光X線分析装置 ■進化した元素分析装置 NEXCGIISeriesは、分析精度を重視した偏光光学系のエネルギ...
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■少量粉末試料の分析に 粉末であれば試料量はミクロスパーテルに一杯で十分です。直接励起方式の光学系により最小径1mmの少量試料でも感...
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■超コンパクト 331mm (W) ×432mm (D) ×376mm (H) 重さ:16kg ■高機能ソフトウェア搭載 半定量分析など高機能ソフトウェアを搭載したPC...
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■超コンパクト 331mm (W) ×432mm (D) ×376mm (H) 重さ:16kgデータ解析用コンピューター、サーマルプリンターを内蔵。 ■様々なサンプル...
リガクのX線分析装置7製品中の注目ランキング
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