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パーク・システムズ・ジャパンの走査型プローブ顕微鏡 (SPM)

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7 点の製品

パーク・システムズ・ジャパン株式会社

高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM

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パーク・システムズは、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムである革新的なPark 3DM...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

メディアおよび基板製造に最適なAFM Park NX-HDM

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ナノスケールの欠陥を特定する作業は、メディアやフラットなサブストレートを扱うエンジニアにとって非常に時間のかかるプロセスです。Park NX-HDMは、自動化...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

AFMによるEUVマスクリペア Park NX-Mask

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Park NX-Mask は、デバイスの微細化、フォトマスクの複雑化に対応した新世代のフォトマスクリペアシステムです。Park NX-Maskは、最先端の原子間力顕微鏡技術...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

自動欠陥検査機能を搭載した唯一のウェハーファブ用AFM Park NX-Wafer

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Park NX-Waferは、半導体および関連ファブリケーション向けの業界をリードする自動AFM測定システムです。 ウェハーファブの検査と解析、ベアウェハーと基板...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

最も正確で使いやすい原子間力顕微鏡 (AFM) Park NX10

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Park NX10は、最高のナノスケール解像度で信頼あるデータを提供します。サンプルのセッティングからイメージング、測定、解析に至るまですべての段階において...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

汎用性の高いAFMで生産性を大幅に向上 Park NX20 Lite

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Park NX20 Liteは、多様な試料を扱う共同研究室、多変量解析やウェハーの故障解析に最適な多くの独自の機能を備えています。 また、リーズナブルな価格設定と...


パーク・システムズ・ジャパン株式会社

柔軟なサンプル対応を可能にした最も経済的なリサーチグレードAFM Park NX7

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Park NX7は、パーク・システムズの最先端技術を搭載し、上位モデル同様細部までこだわって設計されている最も経済的なAFMです。 ■クロストークの除去による...


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