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7 点の製品
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パーク・システムズは、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムで...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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ナノスケールの欠陥を特定する作業は、メディアやフラットなサブストレートを扱うエンジニアにとって非常に時間のかかるプロセスです。P...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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Park NX-Mask は、デバイスの微細化、フォトマスクの複雑化に対応した新世代のフォトマスクリペアシステムです。Park NX-Maskは、最先端...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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Park NX-Waferは、半導体および関連ファブリケーション向けの業界をリードする自動AFM測定システムです。 ウェハーファブの検査と解析...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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Park NX10は、最高のナノスケール解像度で信頼あるデータを提供します。サンプルのセッティングからイメージング、測定、解析に至るまで...
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Park NX20 Liteは、多様な試料を扱う共同研究室、多変量解析やウェハーの故障解析に最適な多くの独自の機能を備えています。 また、リー...
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Park NX7は、パーク・システムズの最先端技術を搭載し、上位モデル同様細部までこだわって設計されている最も経済的なAFMです。 ■クロ...
パーク・システムズ・ジャパンの走査型プローブ顕微鏡 (SPM)7製品中の注目ランキング
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![走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR 装置 AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]-株式会社日本レーザー](https://metoree.s3.ap-northeast-1.amazonaws.com/img/products-new/30024292024050560.png)