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三弘エマテックの分光分析装置

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三弘エマテック株式会社

ナノスケール赤外分光分析システム統合AFM Icon-IR

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■特徴 ・機械特性、電気特性技術に加えナノスケール赤外分光分析が単一システムで実現 ・大型試料対応 ・ハイパフォーマンス10nm以下 ■AFMオプション ・熱分...


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