全てのカテゴリ

閲覧履歴

大塚電子の分光分析装置

27 点の製品がみつかりました

27 点の製品

大塚電子株式会社

量子効率測定システム QE-2100

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

瞬時に絶対量子効率 (絶対量子収率) の測定ができます。粉体、溶液、固体 (フィルム) 、薄膜試料に対応しています。低迷光マルチチャン...


新着

大塚電子株式会社

蛍光イムノクロマトリーダー DiaScan α

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

■特長 Point Of Care Testing (POCT) に最適な超小型イムノクロマトリーダーです。


新着

大塚電子株式会社

ダイナミック光散乱光度計 DLS-6500series

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布 (粒径・粒径分布) 測定が可能です。 ■特長 ・動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布 (粒径...


新着

大塚電子株式会社

ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000series

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

動的光散乱法を用いた粒子径・粒子径分布 (粒径・粒径分布) 測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量・慣性半径・第二ビリアル係数の測定...


新着

大塚電子株式会社

高感度示差屈折計 DRM-3000

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

静的光散乱法による重量平均分子量決定のためのdn/dc測定が可能です。 ■特長 ・シリンジ方式によりサンプル注入が容易に行えます。 ・...


新着

大塚電子株式会社

分光エリプソメータ FE-5000 series

10人以上が見ています

最新の閲覧: 1日前

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

高精度な薄膜解析が可能な分光エリプソメトリーに加え、測定角度の自動可変機構を実装させることにより、あらゆる種類の薄膜にも対応し...


新着

大塚電子株式会社

ロードポート対応膜厚測定システム GS-300

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

パターンマッチ機能搭載、X-Y位置決め精度2um以下のシステムです。 ■特長 ・Φ300mmEFEMユニット予備ポートへのインテグレーションに対...


新着

大塚電子株式会社

カラーフィルタ分光特性測定装置 LCF series

20人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

カラーフィルタの光学特性検査やガラス基板上膜の膜厚検査など FPD生産工程中のあらゆる検査に最適です。 ■特長 ・透過スペクトル測定...


新着

大塚電子株式会社

MCPD series インラインフィルム評価システム

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

MCPD seriesインラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での膜厚、濃度、色などの検査が可能です。測定可能膜厚範囲...


新着

大塚電子株式会社

MCPD series 組込み型膜厚ヘッド

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

当社のMCPD seriesは、フレキシブルファイバーを採用することにより、In-Situからインラインまで様々な場所や用途への組込みが可能にな...


新着

大塚電子株式会社

ディスクリート方式臨床化学自動分析装置 ヘモテクト NS-Prime

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

金コロイド比色法により、便中ヒトヘモグロビンの精密測定が可能な全自動便中ヒトヘモグロビン分析装置です。 (医療機器届出番号 27B1X0...


新着

大塚電子株式会社

顕微分光膜厚計 OPTM series

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

OPTM (オプティム) は、顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。各種フィル...


新着

大塚電子株式会社

OPTM series 組込みヘッドタイプ

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

顕微分光膜厚計OPTM seriesの高精度、微小スポットを生かし、ウェーハのパターン作成後の微小エリア測定など、インラインで膜厚情報を提...


新着

大塚電子株式会社

赤外分光分析装置 POConePlus

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

POConePlus (ポックワンプラス) は、13C尿素製剤を用いた尿素呼気試験法の呼気分析に用いる医療機器で呼気採取バッグを使用し測定をしま...


新着

大塚電子株式会社

高分子相構造解析システム PP-1000

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

小角光散乱法 (SALS) を用いて、高分子やフィルムの構造をリアルタイムに、連続的に評価できる装置です。光源に可視光を使用している為...


新着

大塚電子株式会社

高感度NIR量子効率測定システム QE-5000

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

一重項酸素 (活性酸素) を検出可能。 ■特長 ・0.01%以下の一重項酸素の産生量子収率の測定が可能 ・一重項酸素 (1,270nm) を楽らく直接...


新着

大塚電子株式会社

高速リタデーション測定装置 RE-200

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

光軸の高精度管理。3σ≦0.02° 低リタデーション測定に。 ■特長 ・0nmからの低 (残留) リタデーション測定が可能 ・光軸検出と同時にリ...


新着

大塚電子株式会社

リタデーション測定装置 RETS-100nx

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

OLED用偏光板、積層位相差フィルム、IPS液晶位相差フィルム付偏光板など、あらゆるフィルムに対応したリタデーション測定装置です。超高...


新着

大塚電子株式会社

ラインスキャン膜厚計® インラインタイプ

10人以上が見ています

最新の閲覧: 1日前

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

インラインでのフィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚...


新着

大塚電子株式会社

ラインスキャン膜厚計® オフライン (ウェーハ対応タイプ)

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

■特長 半導体の研究開発や生産現場において、ウェーハ基板上の薄膜を全面測定できる装置です。独自の分光干渉法と新たに開発した高精度...


新着

大塚電子株式会社

ラインスキャン膜厚計® オフラインタイプ

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

フィルムなどの研究開発や品質管理の抜き取り検査に、オフラインで簡単に面内膜厚ムラ検査が可能な装置です。全面を高速かつ高精度に測...


新着

大塚電子株式会社

分光干渉式ウェーハ厚み計 SF-3

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

ウェーハ等の研削研磨プロセスにおいて、非接触でウェーハや樹脂の厚みを超高速・高精度に測定を行います。 ■特長 ・光学式により非接...


新着

大塚電子株式会社

単粒子蛍光診断システム

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

NIMSと共同開発した単粒子診断法※に基づいた測定が可能です。 ※国立研究開発法人 物質・材料研究機構 広崎尚登フェロー、武田隆史研究...


新着

大塚電子株式会社

組込み型膜厚モニター

20人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

波長依存性を有する多層膜測定を高精度に実現。 ■特長 ・分光干渉法を用いた膜厚計 ・高精度FFT膜厚解析エンジンを搭載 (特許 第48348...


新着

大塚電子株式会社

膜厚モニター FE-300F

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

高精度な光干渉法による膜厚測定を簡単操作で実現した小型で低価格な膜厚計です。必要な機器を本体部に収納したオールインワンタイプの...


新着

大塚電子株式会社

超高速分光干渉式厚み計

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

ウェーハ等の研削研磨プロセスを非接触でウェーハや樹脂の超高速リアルタイム・高精度に測定します。 ■特長 ・非接触、非破壊で厚み測...


新着

大塚電子株式会社

量子ドット評価システム

10人以上が見ています

返信の比較的早い企業

100.0% 返答率

12.9時間 返答時間

量子ドット材料は粒子径により発光波長が変わるという特性があるといわれています。本システムでは粒子径および分散安定性の評価ととも...


分光分析装置の関連製品

分光分析装置をもっと見る
Copyright © 2025 Metoree