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ブルカージャパンの非破壊検査装置

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ベンチトップ型高性能 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡 ContourX-100/200/500-ブルカージャパン株式会社

ブルカージャパン株式会社

ベンチトップ型高性能 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡 ContourX-100/200/500

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■光学式プロファイラー ブルカーは白色干渉法を利用した表面形状計測機器のパイオニアであり、精密デバイスから車載部品等の大型試料に至るまでの幅広いサイ...

3種類の品番

ContourX-100-ベンチトップ型高性能 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡 ContourX-100/200/500
ContourX-200-ベンチトップ型高性能 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡 ContourX-100/200/500
ContourX-500-ベンチトップ型高性能 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡 ContourX-100/200/500

ノッチやベベルの欠陥を自動で検出 X線トポグラフィ―装置 JV SENSUS-ブルカージャパン株式会社

ブルカージャパン株式会社

ノッチやベベルの欠陥を自動で検出 X線トポグラフィ―装置 JV SENSUS

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■ノッチやベベルの欠陥を自動で検出　X線トポグラフィ―装置 Bruker JV Sensusはファブ用X線トポグラフィー装置です。近年のシリコン基板に対する深堀トレンチ...


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