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項目別

使用用途

#厚み測定

光源方式

白色光

測定対象

変位測定型

表面形状型

薄膜厚測定型

分解能 nm

0 - 1,000

測定範囲 mm

0 - 5

5 - 50

Micro-Epsilon Japanの干渉計

4 点の製品がみつかりました

4 点の製品

Micro-Epsilon Japan株式会社

距離・厚さ非接触測定用高精度 白色光干渉計 interferoMETER

190人以上が見ています

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33.4時間 返答時間

マイクロエプシロン社の革新的な白色光干渉計は、高精度な距離・厚み測定におけるベンチマークを打ち立てています。サブナノメートルの...

4種類の品番


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