バーンイン試験とは
バーンイン試験は、電子部品・半導体製品に対して行われる信頼性試験の一種です。
バーンイン試験では、出荷前の部品製品に対して、製品使用条件の温度・電圧の負荷をかけることによって、初期不良品を検出し除去します。また、使用条件よりも高い温度・電圧を長時間かけることによって、製品の耐久性を評価します。
電子部品・半導体製品は、出荷直後の初期不良による故障率が非常に高く、時間経過とともに故障率は減少します。したがって、バーンイン試験によって出荷前の初期不良品を選別し除去することで、製品の故障率を軽減し、信頼性の高い製品を市場に出すことができます。