磁気光学効果測定装置 ハードディスク裏打ち層評価装置-ハードディスク裏打ち層評価装置
磁気光学効果測定装置 ハードディスク裏打ち層評価装置-ネオアーク株式会社

磁気光学効果測定装置 ハードディスク裏打ち層評価装置
ネオアーク株式会社



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この製品について

■特長/用途

・ハードディスク記録層が成膜された面内裏打ち層を対象とした評価装置 ・縦Kerr効果により面内磁化試料のヒステリシスループを測定 ・ディスク試料のマッピング評価対応

  • シリーズ

    磁気光学効果測定装置 ハードディスク裏打ち層評価装置

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磁気光学効果測定装置 ハードディスク裏打ち層評価装置 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定方向 使用光源 空間分解能 最大印加磁場
磁気光学効果測定装置 ハードディスク裏打ち層評価装置-品番-ハードディスク裏打ち層評価装置

ハードディスク裏打ち層評価装置

要見積もり 面内方向 半導体レーザ φ1mm 2kOe (0.2T) ~

のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

ネオアーク株式会社は、レーザ光線やレーザ計測システム、レーザ検査システムの事業を展開している会社です。 1976年に資本金4000万円で設立されたこの会社は、本社を東京都八王子市に構えています。その他にも、大阪支店を大...

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  • 本社所在地: 大阪府
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