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分析・計測機器 表面分析装置 走査型X線光電子分光分析装置 (XPS/ESCA) PHI X-tool-PHI X-tool
分析・計測機器 表面分析装置 走査型X線光電子分光分析装置 (XPS/ESCA) PHI X-tool-アルバック販売株式会社

分析・計測機器 表面分析装置 走査型X線光電子分光分析装置 (XPS/ESCA) PHI X-tool
アルバック販売株式会社

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この製品について

■概要

PHIX-toolは簡単操作で高性能XPSを実現する自動マイクロXPS装置です。 特長

■卓越した操作性

PHIX-toolソフトウェアは、シンプルで直感的なタッチパネルにより、あらゆるXPS測定を簡単操作でサポートします。 測定操作はマニュアル設定から完全自動測定 (自動定性・定量・解析・レポート作成) まで自由に選ぶことができるため、XPS経験者から未経験者まで、あらゆるユーザー層に対応します。また、タブレット型PCを採用することで、よりスマートな操作環境を実現しました。

■3ステップで測定開始、レポート作成までを自動で行います。

①サンプル導入②条件選択③測定開始

■自動測定・自動レポート

分析点のAuto-Zアライメント (高速自動高さ調整) 機能、絶縁物試料の全自動中和機能を搭載。測定位置を指定するだけで、未知試料の測定から解析まで実行します。

■自動解析の内容

・定性:ピーク検出および同定 ・定量:自動ピーク範囲設定および定量 ・カーブフィット:プリセット条件によるカーブフィット実行 ・レポート:自動日本語レポート作成機能

■多様な試料観察機能

PHI X-toolは試料観察用として、a) イントロカメラ画像、b) ライブビューカメラ画像、c) X線励起二次電子像 (SXI) の3つの機能を採用しています。これらの機能を合わせもつことで、試料の大きさや形態を問わず容易に測定位置を設定することができます。

■詳細な条件設定も直感的な操作で容易に実現

a) 測定モード選択画面 モードの選択により、詳細な材料や目的に合わせた分析条件設定が可能です。 b) 測定元素を選択する周期律表画面 各光電子ピークラインおよびオージェピークを指定できます。 c) ナロースペクトルの測定条件を設定する画面 パスエネルギー、ステップ、積算時間などを設定できます。 d) コメント入力画面 ファイル名や試料名は日本語入力が可能です。 ※他にも特長がございます。

  • シリーズ

    分析・計測機器 表面分析装置 走査型X線光電子分光分析装置 (XPS/ESCA) PHI X-tool

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分析・計測機器 表面分析装置 走査型X線光電子分光分析装置 (XPS/ESCA) PHI X-tool 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 最小ビーム径 最高エネルギー分解能 試料ホルダーサイズ オプション
分析・計測機器 表面分析装置 走査型X線光電子分光分析装置 (XPS/ESCA) PHI X-tool-品番-PHI X-tool

PHI X-tool

要見積もり

20μm

0.5eV以下 (Ag3d 5/2)

75mm×75mm

ドライポンプ、オフラインデータ処理システム、データ解析ソフトウェア (MultiPak)

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会社概要

アルバック販売株式会社は、1970年に設立された、真空機器関連の専門商社です。 株式会社アルバック(神奈川県)のグループ会社の1社であり、アルバック社の真空機器の国内販売を担います。販売先は、大手メーカーや官公庁・大学...

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  • 本社所在地: 東京都
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