走査電子顕微鏡 JSM-IT510HR InTouchScope™ | コスモトレーディング株式会社

走査電子顕微鏡 JSM-IT510HR InTouchScope™ 品番4件

フィルター

品番	価格 (税抜)	分解能	撮影倍率	表示倍率	電子銃	入射電圧	低真空圧力設定範囲	対物レンズ絞り	自動機能	最大試料寸法	試料ステージ	画像モード	画像サイズ	撮影補助機能	操作支援機能	OS	観察モニター	データ管理	レポート作成ワンクリックレポート	排気システム	EDS仕様制御PC OS：Microsoft®Windows®10 64bit	EDS仕様対応言語日本語 / 英語 / 中国語	EDS仕様検出器 SDDタイプ	EDS仕様スペクトル分析定性分析 (ピーク同定、自動定性) ビジュアルピークID スタンダードレス定量分析 (ZAF法) スタンダード定量分析 (ZAF法) PHI-RHO-Z (PRZ) 法定量補正法他	EDS仕様線分析線分析 (水平、任意方向)	EDS仕様元素マップ元素マップ (多色表示、単色表示、多色合成) 最大解像度 4,096×3,072 リアルタイムポップアップスペクトル波形分離マップ (ネットカウントマップ、定量値マップ) 他	EDS仕様連続分析スペクトル分析・線分析・元素マップ測定済みデータの一括解析 (定性・定量)	EDS仕様モンタージュ自動モンタージュ作成 (SEM像、元素マップ) 複数視野にまたがる連続元素マップ	EDS仕様粒子解析ソフトウエア粒子解析 (自動 / 手動) & EDS分析、粒子解析データの分類機能、粒子解析データの統計処理のグラフ表示、広領域の連続粒子解析＆ EDS分析他	EDS仕様報告書作成 SMILE VIEW™ Lab Microsoft®Word、Microsoft®PowerPoint への出力	EDS仕様 SEMインテグレーション観察・分析データ一元管理 SEMの操作画面で分析位置を指定 (SEMのUI上からダイレクト分析) 分析位置のグラフィック表示
JSM-IT510HR InTouchScope™ BU	要見積もり	高真空モード3.0 nm (30 kV) 、15.0 nm (1.0 kV) 低真空モード4.0 nm (30 kV BED)	×5 ~ ×300,000 (128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定)	×14 ~ ×839,724 (358 mm × 269 mmを表示サイズとして倍率を規定)	Wフィラメント完全自動ガンアライメント	0.3 kV ~ 30 kV	10 ~ 650 Pa	4段 XY微調整機能付き	フィラメント調整、ガンアライメント調整ビームアライメントフォーカス / 非点 / 明るさ / コントラスト調整	200 mm 径 × 75 mm 高さ 200 mm 径 × 80 mm 高さ 32 mm 径 × 90 mm 高さ	大形ユーセントリック式 X：125 mm　Y：100 mm　Z：80 mm 傾斜：-10 ~ 90°　回転：360°	二次電子像、REF像、組成像凹凸像、立体像、PD像	640 × 480　1,280 × 960 2,560 × 1,920　5,120 × 3,840	モンタージュ撮影、Simple SEM Zeromag、Live 3D	レシピ (標準レシピ / カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション信号深さ表示 3次元測定	Microsoft® Windows®10 64bit	23.8型タッチパネル	SMILE VIEW™ Lab	Microsoft®Wordへの出力 Microsoft®PowerPointへの出力	完全自動　TMP：1台　RP：1台または2台	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-
JSM-IT510HR InTouchScope™ A	要見積もり	高真空モード3.0 nm (30 kV) 、15.0 nm (1.0 kV) 低真空モード4.0 nm (30 kV BED)	×5 ~ ×300,000 (128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定)	×14 ~ ×839,724 (358 mm × 269 mmを表示サイズとして倍率を規定)	Wフィラメント完全自動ガンアライメント	0.3 kV ~ 30 kV	10 ~ 650 Pa	4段 XY微調整機能付き	フィラメント調整、ガンアライメント調整ビームアライメントフォーカス / 非点 / 明るさ / コントラスト調整	200 mm 径 × 75 mm 高さ 200 mm 径 × 80 mm 高さ 32 mm 径 × 90 mm 高さ	大形ユーセントリック式 X：125 mm　Y：100 mm　Z：80 mm 傾斜：-10 ~ 90°　回転：360°	二次電子像、REF像、組成像凹凸像、立体像、PD像	640 × 480　1,280 × 960 2,560 × 1,920　5,120 × 3,840	モンタージュ撮影、Simple SEM Zeromag、Live 3D	レシピ (標準レシピ / カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション信号深さ表示 3次元測定	Microsoft® Windows®10 64bit	23.8型タッチパネル	SMILE VIEW™ Lab	Microsoft®Wordへの出力 Microsoft®PowerPointへの出力	完全自動　TMP：1台　RP：1台または2台	OS：Microsoft®Windows®10 64bit	日本語 / 英語 / 中国語	SDDタイプ	定性分析 (ピーク同定、自動定性) ビジュアルピークID スタンダードレス定量分析 (ZAF法) スタンダード定量分析 (ZAF法) PHI-RHO-Z (PRZ) 法定量補正法他	線分析 (水平、任意方向)	元素マップ (多色表示、単色表示、多色合成) 最大解像度 4,096×3,072 リアルタイムポップアップスペクトル波形分離マップ (ネットカウントマップ、定量値マップ) 他	スペクトル分析・線分析・元素マップ測定済みデータの一括解析 (定性・定量)	自動モンタージュ作成 (SEM像、元素マップ) 複数視野にまたがる連続元素マップ	粒子解析 (自動 / 手動) & EDS分析、粒子解析データの分類機能、粒子解析データの統計処理のグラフ表示、広領域の連続粒子解析＆ EDS分析他	SMILE VIEW™ Lab Microsoft®Word、Microsoft®PowerPoint への出力	観察・分析データ一元管理 SEMの操作画面で分析位置を指定 (SEMのUI上からダイレクト分析) 分析位置のグラフィック表示
JSM-IT510HR InTouchScope™ LV	要見積もり	高真空モード3.0 nm (30 kV) 、15.0 nm (1.0 kV) 低真空モード4.0 nm (30 kV BED)	×5 ~ ×300,000 (128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定)	×14 ~ ×839,724 (358 mm × 269 mmを表示サイズとして倍率を規定)	Wフィラメント完全自動ガンアライメント	0.3 kV ~ 30 kV	10 ~ 650 Pa	4段 XY微調整機能付き	フィラメント調整、ガンアライメント調整ビームアライメントフォーカス / 非点 / 明るさ / コントラスト調整	200 mm 径 × 75 mm 高さ 200 mm 径 × 80 mm 高さ 32 mm 径 × 90 mm 高さ	大形ユーセントリック式 X：125 mm　Y：100 mm　Z：80 mm 傾斜：-10 ~ 90°　回転：360°	二次電子像、REF像、組成像凹凸像、立体像、PD像	640 × 480　1,280 × 960 2,560 × 1,920　5,120 × 3,840	モンタージュ撮影、Simple SEM Zeromag、Live 3D	レシピ (標準レシピ / カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション信号深さ表示 3次元測定	Microsoft® Windows®10 64bit	23.8型タッチパネル	SMILE VIEW™ Lab	Microsoft®Wordへの出力 Microsoft®PowerPointへの出力	完全自動　TMP：1台　RP：1台または2台	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-	-
JSM-IT510HR InTouchScope™ LA	要見積もり	高真空モード3.0 nm (30 kV) 、15.0 nm (1.0 kV) 低真空モード4.0 nm (30 kV BED)	×5 ~ ×300,000 (128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定)	×14 ~ ×839,724 (358 mm × 269 mmを表示サイズとして倍率を規定)	Wフィラメント完全自動ガンアライメント	0.3 kV ~ 30 kV	10 ~ 650 Pa	4段 XY微調整機能付き	フィラメント調整、ガンアライメント調整ビームアライメントフォーカス / 非点 / 明るさ / コントラスト調整	200 mm 径 × 75 mm 高さ 200 mm 径 × 80 mm 高さ 32 mm 径 × 90 mm 高さ	大形ユーセントリック式 X：125 mm　Y：100 mm　Z：80 mm 傾斜：-10 ~ 90°　回転：360°	二次電子像、REF像、組成像凹凸像、立体像、PD像	640 × 480　1,280 × 960 2,560 × 1,920　5,120 × 3,840	モンタージュ撮影、Simple SEM Zeromag、Live 3D	レシピ (標準レシピ / カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション信号深さ表示 3次元測定	Microsoft® Windows®10 64bit	23.8型タッチパネル	SMILE VIEW™ Lab	Microsoft®Wordへの出力 Microsoft®PowerPointへの出力	完全自動　TMP：1台　RP：1台または2台	OS：Microsoft®Windows®10 64bit	日本語 / 英語 / 中国語	SDDタイプ	定性分析 (ピーク同定、自動定性) ビジュアルピークID スタンダードレス定量分析 (ZAF法) スタンダード定量分析 (ZAF法) PHI-RHO-Z (PRZ) 法定量補正法他	線分析 (水平、任意方向)	元素マップ (多色表示、単色表示、多色合成) 最大解像度 4,096×3,072 リアルタイムポップアップスペクトル波形分離マップ (ネットカウントマップ、定量値マップ) 他	スペクトル分析・線分析・元素マップ測定済みデータの一括解析 (定性・定量)	自動モンタージュ作成 (SEM像、元素マップ) 複数視野にまたがる連続元素マップ	粒子解析 (自動 / 手動) & EDS分析、粒子解析データの分類機能、粒子解析データの統計処理のグラフ表示、広領域の連続粒子解析＆ EDS分析他	SMILE VIEW™ Lab Microsoft®Word、Microsoft®PowerPoint への出力	観察・分析データ一元管理 SEMの操作画面で分析位置を指定 (SEMのUI上からダイレクト分析) 分析位置のグラフィック表示