走査電子顕微鏡 JSM-IT510HR InTouchScope™
コスモトレーディング株式会社
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この製品について
■撮影したい視野を選ぶだけ
Simple SEMは日々のルーティンワークをサポートします。■試料を入れて、迷わず観察
安全・簡単。 試料交換ナビ 1. 試料交換ナビに従って試料を挿入 2. 真空排気時間を利用して観察準備 3. 自動的に観察開始 真空排気完了後、目的視野でフォーカスと明るさが調整された状態です。 Zeromag■光学像を拡大すれば、SEM像
Zeromagは、ホルダーグラフィックや光学像※とSEM像が連動する機能です。複数の試料をホルダーにセットした場合や特定箇所を観察する場合の視野探しが容易になります。 Live Analysis / Live Map■観察中も常に元素分析
Live Analysisは、常に特性X線スペクトルや元素マップを表示させる機能です。観察しながら、目的の元素を探すことができます。■簡単分析機能
3クリックで分析を開始できます。 充実の機能■低真空ハイブリッド二次電子検出器 (LHSED)
JSM-IT510は、新開発のLHSEDを搭載できます。二次電子が残留ガス分子に衝突した際に発生する電子と励起光を検出することで、低真空でも凹凸情報が得られます。■Live 3D
新開発の4分割反射電子検出器で3D画像をライブ表示します。それにより、凹凸の判断が難しい試料形状を視覚的に認識できます。■モンタージュ機能
複数視野を一枚の画像に自動で繋ぎ合わせます。■信号深さ表示
信号深さ表示機能は、SEMのGUIに組み込まれ、測定している試料の分析深さ (目安) を即座に知ることができます。元素分析の際に有効です。-
シリーズ
走査電子顕微鏡 JSM-IT510HR InTouchScope™
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取扱企業
コスモトレーディング株式会社
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カテゴリ
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走査電子顕微鏡 JSM-IT510HR InTouchScope™ 品番4件
各品番毎の詳細は品番をクリックしてください
| まとめて問合せ・見積 | 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 分解能 | 撮影倍率 | 表示倍率 | 電子銃 | 入射電圧 | 低真空圧力設定範囲 | 対物レンズ絞り | 自動機能 | 最大試料寸法 | 試料ステージ | 画像モード | 画像サイズ | 撮影補助機能 | 操作支援機能 | OS | 観察モニター | データ管理 | レポート作成ワンクリックレポート | 排気システム | EDS仕様 制御PC | EDS仕様 対応言語 | EDS仕様 検出器 | EDS仕様 スペクトル分析 | EDS仕様 線分析 | EDS仕様 元素マップ | EDS仕様 連続分析 | EDS仕様 モンタージュ | EDS仕様 粒子解析ソフトウエア | EDS仕様 報告書作成 | EDS仕様 SEMインテグレーション |
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JSM-IT510HR InTouchScope™ BU |
要見積もり |
高真空モード3.0 nm (30 kV) 、15.0 nm (1.0 kV) 低真空モード4.0 nm (30 kV BED) |
×5 ~ ×300,000 (128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定) | ×14 ~ ×839,724 (358 mm × 269 mmを表示サイズとして倍率を規定) | Wフィラメント 完全自動ガンアライメント | 0.3 kV ~ 30 kV | 10 ~ 650 Pa | 4段 XY微調整機能付き |
フィラメント調整、ガンアライメント調整 ビームアライメント フォーカス / 非点 / 明るさ / コントラスト調整 |
200 mm 径 × 75 mm 高さ 200 mm 径 × 80 mm 高さ 32 mm 径 × 90 mm 高さ |
大形ユーセントリック式 X：125 mm Y：100 mm Z：80 mm 傾斜：-10 ~ 90° 回転：360° |
二次電子像、REF像、組成像 凹凸像、立体像、PD像 |
640 × 480 1,280 × 960 2,560 × 1,920 5,120 × 3,840 |
モンタージュ撮影、Simple SEM Zeromag、Live 3D |
レシピ (標準レシピ / カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、 平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション 信号深さ表示 3次元測定 |
Microsoft® Windows®10 64bit | 23.8型タッチパネル | SMILE VIEW™ Lab |
Microsoft®Wordへの出力 Microsoft®PowerPointへの出力 |
完全自動 TMP：1台 RP：1台または2台 | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - | |
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JSM-IT510HR InTouchScope™ A |
要見積もり |
高真空モード3.0 nm (30 kV) 、15.0 nm (1.0 kV) 低真空モード4.0 nm (30 kV BED) |
×5 ~ ×300,000 (128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定) | ×14 ~ ×839,724 (358 mm × 269 mmを表示サイズとして倍率を規定) | Wフィラメント 完全自動ガンアライメント | 0.3 kV ~ 30 kV | 10 ~ 650 Pa | 4段 XY微調整機能付き |
フィラメント調整、ガンアライメント調整 ビームアライメント フォーカス / 非点 / 明るさ / コントラスト調整 |
200 mm 径 × 75 mm 高さ 200 mm 径 × 80 mm 高さ 32 mm 径 × 90 mm 高さ |
大形ユーセントリック式 X：125 mm Y：100 mm Z：80 mm 傾斜：-10 ~ 90° 回転：360° |
二次電子像、REF像、組成像 凹凸像、立体像、PD像 |
640 × 480 1,280 × 960 2,560 × 1,920 5,120 × 3,840 |
モンタージュ撮影、Simple SEM Zeromag、Live 3D |
レシピ (標準レシピ / カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、 平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション 信号深さ表示 3次元測定 |
Microsoft® Windows®10 64bit | 23.8型タッチパネル | SMILE VIEW™ Lab |
Microsoft®Wordへの出力 Microsoft®PowerPointへの出力 |
完全自動 TMP：1台 RP：1台または2台 | OS：Microsoft®Windows®10 64bit | 日本語 / 英語 / 中国語 | SDDタイプ |
定性分析 (ピーク同定、自動定性) ビジュアルピークID スタンダードレス定量分析 (ZAF法) スタンダード定量分析 (ZAF法) PHI-RHO-Z (PRZ) 法定量補正法 他 |
線分析 (水平、任意方向) |
元素マップ (多色表示、単色表示、多色合成) 最大解像度 4,096×3,072 リアルタイムポップアップスペクトル 波形分離マップ (ネットカウントマップ、定量値マップ) 他 |
スペクトル分析・線分析・元素マップ 測定済みデータの一括解析 (定性・定量) |
自動モンタージュ作成 (SEM像、元素マップ) 複数視野にまたがる連続元素マップ |
粒子解析 (自動 / 手動) & EDS分析、粒子解析データの分類機能、 粒子解析データの統計処理のグラフ表示、広領域の連続粒子解析 ＆ EDS分析 他 |
SMILE VIEW™ Lab Microsoft®Word、Microsoft®PowerPoint への出力 |
観察・分析データ一元管理 SEMの操作画面で分析位置を指定 (SEMのUI上からダイレクト分析) 分析位置のグラフィック表示 |
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JSM-IT510HR InTouchScope™ LV |
要見積もり |
高真空モード3.0 nm (30 kV) 、15.0 nm (1.0 kV) 低真空モード4.0 nm (30 kV BED) |
×5 ~ ×300,000 (128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定) | ×14 ~ ×839,724 (358 mm × 269 mmを表示サイズとして倍率を規定) | Wフィラメント 完全自動ガンアライメント | 0.3 kV ~ 30 kV | 10 ~ 650 Pa | 4段 XY微調整機能付き |
フィラメント調整、ガンアライメント調整 ビームアライメント フォーカス / 非点 / 明るさ / コントラスト調整 |
200 mm 径 × 75 mm 高さ 200 mm 径 × 80 mm 高さ 32 mm 径 × 90 mm 高さ |
大形ユーセントリック式 X：125 mm Y：100 mm Z：80 mm 傾斜：-10 ~ 90° 回転：360° |
二次電子像、REF像、組成像 凹凸像、立体像、PD像 |
640 × 480 1,280 × 960 2,560 × 1,920 5,120 × 3,840 |
モンタージュ撮影、Simple SEM Zeromag、Live 3D |
レシピ (標準レシピ / カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、 平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション 信号深さ表示 3次元測定 |
Microsoft® Windows®10 64bit | 23.8型タッチパネル | SMILE VIEW™ Lab |
Microsoft®Wordへの出力 Microsoft®PowerPointへの出力 |
完全自動 TMP：1台 RP：1台または2台 | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - | |
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JSM-IT510HR InTouchScope™ LA |
要見積もり |
高真空モード3.0 nm (30 kV) 、15.0 nm (1.0 kV) 低真空モード4.0 nm (30 kV BED) |
×5 ~ ×300,000 (128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定) | ×14 ~ ×839,724 (358 mm × 269 mmを表示サイズとして倍率を規定) | Wフィラメント 完全自動ガンアライメント | 0.3 kV ~ 30 kV | 10 ~ 650 Pa | 4段 XY微調整機能付き |
フィラメント調整、ガンアライメント調整 ビームアライメント フォーカス / 非点 / 明るさ / コントラスト調整 |
200 mm 径 × 75 mm 高さ 200 mm 径 × 80 mm 高さ 32 mm 径 × 90 mm 高さ |
大形ユーセントリック式 X：125 mm Y：100 mm Z：80 mm 傾斜：-10 ~ 90° 回転：360° |
二次電子像、REF像、組成像 凹凸像、立体像、PD像 |
640 × 480 1,280 × 960 2,560 × 1,920 5,120 × 3,840 |
モンタージュ撮影、Simple SEM Zeromag、Live 3D |
レシピ (標準レシピ / カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、 平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション 信号深さ表示 3次元測定 |
Microsoft® Windows®10 64bit | 23.8型タッチパネル | SMILE VIEW™ Lab |
Microsoft®Wordへの出力 Microsoft®PowerPointへの出力 |
完全自動 TMP：1台 RP：1台または2台 | OS：Microsoft®Windows®10 64bit | 日本語 / 英語 / 中国語 | SDDタイプ |
定性分析 (ピーク同定、自動定性) ビジュアルピークID スタンダードレス定量分析 (ZAF法) スタンダード定量分析 (ZAF法) PHI-RHO-Z (PRZ) 法定量補正法 他 |
線分析 (水平、任意方向) |
元素マップ (多色表示、単色表示、多色合成) 最大解像度 4,096×3,072 リアルタイムポップアップスペクトル 波形分離マップ (ネットカウントマップ、定量値マップ) 他 |
スペクトル分析・線分析・元素マップ 測定済みデータの一括解析 (定性・定量) |
自動モンタージュ作成 (SEM像、元素マップ) 複数視野にまたがる連続元素マップ |
粒子解析 (自動 / 手動) & EDS分析、粒子解析データの分類機能、 粒子解析データの統計処理のグラフ表示、広領域の連続粒子解析 ＆ EDS分析 他 |
SMILE VIEW™ Lab Microsoft®Word、Microsoft®PowerPoint への出力 |
観察・分析データ一元管理 SEMの操作画面で分析位置を指定 (SEMのUI上からダイレクト分析) 分析位置のグラフィック表示 |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
