内径欠陥検査装置 ANALYZER3 NEO
ANALYZER株式会社
この製品について
■このような課題を解決します
・人件費の削減ができます。 ・数値基準のため品質が安定します。 ・過剰品質による過剰NG品を防ぐことが可能です。 ・圧倒的な検査時間の短縮で業務の効率化が可能です。■特徴
・非破壊／非接触でワーク内径を高速にスキャンし欠陥を検査します。 ・最小検出サイズ0.1mm (従来比2倍) で、微細な欠陥の検査に適しています。 ・18,000rpm (従来比1.2倍) で高速な検査を行います。-
シリーズ
内径欠陥検査装置 ANALYZER3 NEO
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取扱企業
ANALYZER株式会社
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カテゴリ
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内径欠陥検査装置 ANALYZER3 NEO 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 方式 | 光源 | レーザークラス | 検出成分 | 対象口径 | 回転数 | 有効測定長 | 最小検出サイズ | 検査速度の目安 | サンプリング周波数 | 電源 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
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SG-LSDC-6-203-18K-NEO |
要見積もり | 光学スキャニング方式 | 赤色半導体レーザー (波長640nm 最大40mW) | クラス3B | 直接光 | Φ7mm~ | 18,000rpm | 200mm | 0.2mm | 約3.3秒 ※測定長100mm、分解能0.1mmの場合 | ~2,400kHz | 100、200V |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
