レーザーOESによる迅速なスラグ分析スタンドアップレーザー分光計 QLX 9-QLX 9

レーザーOESによる迅速なスラグ分析スタンドアップレーザー分光計 QLX 9
株式会社オーイーエス

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この製品について

■QLXはサンプル前処理不要のElectric Furnace Slag (EAF) スラグ 及びLadle Furnace (LF) スラグ分析用のスタンドアップレーザー分光計です。QLX9 は、スラグやその他の不均一なサンプルを事前のサンプル前処理なしで 約1分未満で分析できるレーザー分光計です。 これにより、現場でのプロセス適応と、1時間あたり最大55サンプルのクローズドメッシュモニタリングが可能になります。 両方の効果により、プロセス制御がより安定し、リソース効率が最大化されます。

QLX9は高速分析と卓越した安定性により、XRF分析装置の完全な代替品となります。メンテナンスが少なく、アルゴンガスやバインダーなどの消耗品を必要としないため、全体的な運用コストは、確立されたすべての分析手法の中ではるかに低くなります。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
レーザーOESによる迅速なスラグ分析スタンドアップレーザー分光計 QLX 9

取扱企業
株式会社オーイーエス

カテゴリ

アナライザ

分光分析装置

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レーザーOESによる迅速なスラグ分析スタンドアップレーザー分光計 QLX 9 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	本体寸法	重量	レーザー発生器	スペクトル範囲	光学系	検出器	レーザー照射部	ディスプレイ	電源	動作温度	プロセッサ	OS	サンプルステージ
	QLX 9	要見積もり	585×585×1,200mm (幅×奥行き×高さ)	90Kg	パルスレーザー、クラス1 (クローズドサンプルステージ)	VIS-nIR	シングル、デュアルまたはトリプル光学系 (オプション)	相補型金属酸化膜半導体 (CMOS)	開口部3mm	コントローラのタイプに応じて13インチまたは23インチ	AC230V 50/60Hz	5℃~35℃	intel i3以上	Windows 10	回転サンプルトレイ、直径100mm