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LTCC応用デバイス 半導体検査用インターポーザ基板-メモリー用12インチインターポーザ基板 (電源/GND内臓)
LTCC応用デバイス 半導体検査用インターポーザ基板-ロジック用インターポーザ基板 (多ピン/多Dut)
LTCC応用デバイス 半導体検査用インターポーザ基板-株式会社ヨコオ

LTCC応用デバイス 半導体検査用インターポーザ基板
株式会社ヨコオ

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この製品について

■LTCCとRF技術で拓く新しいソリューション。世界へ展開するヨコオのLTCC基板とパッケージ

LTCC 低温同時焼成セラミックス (Low Temperature Co-fired Ceramics) 技術を核に、高密度配線を実現した小型・低背・RF対応のLTCC基板を提供します。

■半導体検査用インターポーザ基板

LSI半導体ウエハでは最大数千に及ぶボンディングパッドが密集して配置されており、特性検査するには半導体の狭ピッチパッドを空間的に拡張してテスターにつなげるプローバーが必須です。 ヨコオは先端のLTCCプロセス技術を駆使してこの心臓部分であるインターポーザ基板を実現しました。ヨコオの微細精密加工垂直プローブと併せて、半導体ウエハ検査分野で先進の要求に対応します。

  • シリーズ

    LTCC応用デバイス 半導体検査用インターポーザ基板

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LTCC応用デバイス 半導体検査用インターポーザ基板 品番2件

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LTCC応用デバイス 半導体検査用インターポーザ基板-品番-メモリー用12インチインターポーザ基板 (電源/GND内臓)

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熱伝導率 W/m・K

0 - 10 10 - 30 30 - 60 60 - 250 250 - 550

密度 g/cm3

0 - 1 1 - 2 2 - 3 3 - 4 4 - 5

曲げ強度 MPa

100 - 200 200 - 300 300 - 400 400 - 500 500 - 600 600 - 700

熱膨張係数 10^-6/℃

-1 - 5 5 - 6 6 - 7 7 - 70 70 - 80

体積固有抵抗 GΩ・cm

1 - 10 10 - 100 100 - 1,000 1,000 - 10,000 10,000 - 100,000 100,000 - 1,000,000 1,000,000 - 5,000,000

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