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製品検査用コンタクトプローブ パネル検査用-DE1-030BB10-01A0
製品検査用コンタクトプローブ パネル検査用-株式会社シー・シー・ピー・ジャパン

製品検査用コンタクトプローブ パネル検査用
株式会社シー・シー・ピー・ジャパン



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この製品について

■概要

多くのパネル画面はしばしば繊細なものであるため、検査のための適切なソリューションが必要とされます。検査対象を傷から守るため、先端をカスタマイズすることのできるポゴピンは特にこうした用途に最適です。

■パネル検査用ハウジング

ハウジングは、パネルに直接触れる検査用ヘッドに搭載されます。パネルを損傷から保護するため、パネル表面に擦傷がつくのを防ぐためにヘッドを丸くしています。

■パネル用ピンの先端形状

円錐型の先端は酸化物の層を刺すことができ、画面に傷を残す可能性が低いです。擦傷の可能性を排除するため、弊社では通常、パネル検査向けにはDタイプを推奨しています。

  • シリーズ

    製品検査用コンタクトプローブ パネル検査用

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製品検査用コンタクトプローブ パネル検査用 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 最小ピッチ パネルサイズ ハウジング素材 寿命 (ピン) 材質 バレル 材質 スプリング 材質 下プランジャー 推奨ストローク 最大ストローク スプリング力 動作温度 ピッチ ソケット素材 定格電流 接触抵抗 特性インピーダンス 挿入損失 リターンロス 遅延時間 ループインダクタンス キャパシタンス
製品検査用コンタクトプローブ パネル検査用-品番-DE1-030BB10-01A0

DE1-030BB10-01A0

要見積もり

0.45mm

50”~85”

Peek

>200,000

PhBz、金メッキ

SWP、金メッキ

SK4、金メッキ

1.25mm

1.90mm

20g±20%@1.25mm

-15℃~125℃

0.4mm

PEEK1,000

1A連続

<175mΩ (平均)

67Ω

-1dB@>3.34GHz

-20dB@0.87GHz

67.01psec

4.49nH

1pF

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使用用途

#基板検査 #半導体テスト #バッテリー充電 #信号伝送 #通信機器 #電子機器 #高周波測定 #大電流測定 #抵抗測定 #インピーダンス伝送量測定

構造形式

スプリングプローブ型 可動コンタクト型

特性

高周波対応型 高電流対応型 高寿命型

バネ圧 N

0 - 1 1 - 2 2 - 4 4 - 6

ストローク耐久性 回

5,000 - 20,000 20,000 - 100,000 100,000 - 200,000

使用雰囲気温度 ℃

-50 - 0 0 - 50 50 - 100 100 - 150

接触抵抗値 mΩ

50 - 100 100 - 1,000 1,000 - 60,000

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