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製品検査用コンタクトプローブ 高電流 IC 検査用-IC検査用プローブ
製品検査用コンタクトプローブ 高電流 IC 検査用-株式会社シー・シー・ピー・ジャパン

製品検査用コンタクトプローブ 高電流 IC 検査用
株式会社シー・シー・ピー・ジャパン

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この製品について

■概要

当社のIC検査用の大電流コンタクトプローブピンのご紹介ページです。当社の特許技術は従来よりも格段に信頼性の高い電流値を確保し、テスターの消耗を大きく軽減する事に成功しております。少量からのカスタムも対応が可能です。

■高電流用両端コンタクトプローブ IC検査用

通常、電流は下プランジャーからバレル壁を通って上プランジャーへと流れますが、壁とプランジャーの間の接触抵抗が徐々に増すため、上下プランジャー間の電流の経路はバレルからスプリングへと変化し、スプリング焼けを引き起こす可能性があります。高電流ピンの中心にあるストレートプランジャーによって、検査中に電流がスプリングを通ることを回避できるようになります。

■台湾特許No.：M453149

CCPは標準的な検査用ピンとは異なる特殊な設計を開発し、大電流ピンの定格電流を上げることに成功しました。

■高電流用同軸ピン リチウムバッテリ検査用

同軸ピンの中にセンスピンとフォースピンの形状を統合しました。フォースピンも1つにまとめて、高電流に耐えるように設計しています。

■シングルプローブ 用途の説明

PCBに入るプローブ群が回路をループさせ、リチウムバッテリを作動させます。

■同軸プローブ 用途の説明

単一箇所の検査に大電流容量を必要とする場合には、ピンの寸法を調整するだけで、電流定格要件を満たすことができます。

  • シリーズ

    製品検査用コンタクトプローブ 高電流 IC 検査用

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製品検査用コンタクトプローブ 高電流 IC 検査用 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 台湾特許
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No.：M453149

この商品の取り扱い会社情報

株式会社シー・シー・ピー・ジャパン

  • 本社所在地: 東京都

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