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製品検査用コンタクトプローブ メモリ検査用-DDR2/3ソケット
製品検査用コンタクトプローブ メモリ検査用-株式会社シー・シー・ピー・ジャパン

製品検査用コンタクトプローブ メモリ検査用
株式会社シー・シー・ピー・ジャパン



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この製品について

■概要

当社のメモリ検査用コンタクトプローブのご紹介ページです。一般的なフォーマットの全て (DDR、フラッシュ、eMCPなど) に対し検査ソリューションを提供するだけでなく、お客様の個々のニーズに応じてカスタム仕様の検査ソリューションを提供します。 メモリICは、ほぼすべての電気デバイスにおいて核となる部品です。メモリICは通常、揮発性メモリと不揮発性メモリに分類されます。不揮発性メモリは電源が切られても保存された情報を維持しますが、揮発性メモリはデータ保持のために絶えず電源供給を必要とします。ほとんどのメモリモジュール製品は、標準的な検査ピンで検査することができるよう、標準的なフォーマットになっています。本ページでは当社のメモリ検査用のソリューションをご紹介いたします。

  • シリーズ

    製品検査用コンタクトプローブ メモリ検査用

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製品検査用コンタクトプローブ メモリ検査用 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 材質 射出成形 最小ピッチ 最大位置数 伝送レート (MT/s)
製品検査用コンタクトプローブ メモリ検査用-品番-DDR2/3ソケット

DDR2/3ソケット

要見積もり

PES

0.4mm

8~16 (片面/両面)

200MHz~1,866MHz

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使用用途

#基板検査 #半導体テスト #バッテリー充電 #信号伝送 #通信機器 #電子機器 #高周波測定 #大電流測定 #抵抗測定 #インピーダンス伝送量測定

構造形式

スプリングプローブ型 可動コンタクト型

特性

高周波対応型 高電流対応型 高寿命型

バネ圧 N

0 - 1 1 - 2 2 - 4 4 - 6

ストローク耐久性 回

5,000 - 20,000 20,000 - 100,000 100,000 - 200,000

使用雰囲気温度 ℃

-50 - 0 0 - 50 50 - 100 100 - 150

接触抵抗値 mΩ

50 - 100 100 - 1,000 1,000 - 60,000

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