製品検査用コンタクトプローブメモリ検査用
株式会社シー・シー・ピー・ジャパン

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この製品について

■概要当社のメモリ検査用コンタクトプローブのご紹介ページです。一般的なフォーマットの全て (DDR、フラッシュ、eMCPなど) に対し検査ソリューションを提供するだけでなく、お客様の個々のニーズに応じてカスタム仕様の検査ソリューションを提供します。

メモリICは、ほぼすべての電気デバイスにおいて核となる部品です。メモリICは通常、揮発性メモリと不揮発性メモリに分類されます。不揮発性メモリは電源が切られても保存された情報を維持しますが、揮発性メモリはデータ保持のために絶えず電源供給を必要とします。ほとんどのメモリモジュール製品は、標準的な検査ピンで検査することができるよう、標準的なフォーマットになっています。本ページでは当社のメモリ検査用のソリューションをご紹介いたします。