製品検査用コンタクトプローブ高周波検査用-製品検査用コンタクトプローブ高周波検査用

製品検査用コンタクトプローブ高周波検査用
株式会社シー・シー・ピー・ジャパン

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この製品について

■概要高周波検査の多くは、無線周波数のチャンネルや広帯域トランザクションのために使用されます。シグナルピンは、電気特性やお客様の検査環境に従ってカスタマイズ可能です。超短ピン、同軸コンタクトプローブ、およびPCRをお薦めしています。5GのIC用コンタクトプローブやセンシングデバイス用のコネクタにも実績があります。

■設計コンセプト弊社には、3D電磁性能の予測、ならびにSパラメータ、インダクタンス、インピーダンスの特性確認を事前に行う能力があり、これによってSI特性を高めることができます。

■性能シミュレーションC.C.P.では、ソケット内でのピン性能のシミュレーションにHFSSを使用します。これにより、カスタム仕様のソケットを設計する前に最良のピンを選択することができます。ソケット／ピンの実性能を測定するためのTDR、ネットワーク解析機、RFプローブステーションを備えた高周波用の研究室を何年もかけて確立し、ここでシミュレーション結果を検証しています。これらはハイクラスの新製品を開発するのに欠かせない機器です。

■特徴・高速
・高周波

■DUT・Bluetooth
・GPS
・LTE
・ワイヤレスIC

■パッケージ・BGA
・CSP
・QFN
・QFP