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製品検査用コンタクトプローブ ウェーハ検査用-ウェーハ検査用
製品検査用コンタクトプローブ ウェーハ検査用-株式会社シー・シー・ピー・ジャパン

製品検査用コンタクトプローブ ウェーハ検査用
株式会社シー・シー・ピー・ジャパン



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この製品について

■概要

当社のウェーハ検査用コンタクトプローブのご紹介ページです。お客様のご要求に答えるべく、30種類以上のプローブヘッドの設計がございます。より正確な検査を実現するため、お客様の要求仕様にマッチしたご提案をしております。 半導体市場におけるウエハーレベルCSPの大きな成長に合わせて、C.C.Pは市場の需要に応えるべく30種類以上のプローブヘッドを設計してきました。また、当社のプローブの設計によって、プローブヘッドの耐久性を向上させることができます。 さらに、動作ストロークを250umに設計した弊社のコンタクトプローブを使えば、異なるサイズの半田ボールによって引き起こされる共平面性のエラーも回避することができます。弊社では、お客様のニーズに合うよう、幅広い種類のプローブヘッドの中から最適なものをご提案いたします。

■設計コンセプト

最高の品質を達成するため、C.C.P.はツガミのCNC旋盤を所有しています。そのため弊社では正確な位置に精巧な穴を開けることができます。弊社で開けることのできる最小サイズの穴はφ60umです。

  • シリーズ

    製品検査用コンタクトプローブ ウェーハ検査用

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製品検査用コンタクトプローブ ウェーハ検査用 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 最小ピッチ 最大位置数 上部ハウジング材料 搭載プレート材料 下部ハウジング材料 製品寿命 (ピン)
製品検査用コンタクトプローブ ウェーハ検査用-品番-ウェーハ検査用

ウェーハ検査用

要見積もり

0.15mm

32箇所

Photoveel®/VESPEL® SCP5000

トーロン®5530

VESPEL® SCP5000

>300,000

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使用用途

#基板検査 #半導体テスト #バッテリー充電 #信号伝送 #通信機器 #電子機器 #高周波測定 #大電流測定 #抵抗測定 #インピーダンス伝送量測定

構造形式

スプリングプローブ型 可動コンタクト型

特性

高周波対応型 高電流対応型 高寿命型

バネ圧 N

0 - 1 1 - 2 2 - 4 4 - 6

ストローク耐久性 回

5,000 - 20,000 20,000 - 100,000 100,000 - 200,000

使用雰囲気温度 ℃

-50 - 0 0 - 50 50 - 100 100 - 150

接触抵抗値 mΩ

50 - 100 100 - 1,000 1,000 - 60,000

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