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製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 スルーホール向けプローブシリーズ Tシリーズ-ICT-T:098-2050-0700-0450-LA-T5:BC-Au-PB-Au
製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 スルーホール向けプローブシリーズ Tシリーズ-株式会社シー・シー・ピー・ジャパン

製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 スルーホール向けプローブシリーズ Tシリーズ
株式会社シー・シー・ピー・ジャパン



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    製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 スルーホール向けプローブシリーズ Tシリーズ

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製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 スルーホール向けプローブシリーズ Tシリーズ 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) バレル直径 (mm) 最大長 (mm) 基板~先端長さ (mm) 最大ストローク (mm) 後端タイプ プランジャーのベース材 プランジャーのメッキ バレルのベース材 バレルのメッキ
製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 スルーホール向けプローブシリーズ Tシリーズ-品番-ICT-T:098-2050-0700-0450-LA-T5:BC-Au-PB-Au

ICT-T:098-2050-0700-0450-LA-T5:BC-Au-PB-Au

要見積もり

0.98~3.23

20.50~54.00

7.00~23.00

4.50~12.00

N:後端なし、C:カップ型後端、W9:ワイヤラッピング用 角型後端 後端部分長9mm、T5:端子圧着用丸型後端 後端部長さ5mm、S:ワイヤ半田付け

BC:ベリリウム銅、PB:リン青銅、SK4:高炭素鋼

Au:金、Rh:ロジウム、Ni:ニッケル、NA:なし

PB:リン青銅、BR:真鍮、POM:ポリオキシメチレン

Au:金、NA:なし

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使用用途

#基板検査 #半導体テスト #バッテリー充電 #信号伝送 #通信機器 #電子機器 #高周波測定 #大電流測定 #抵抗測定 #インピーダンス伝送量測定

構造形式

スプリングプローブ型 可動コンタクト型

特性

高周波対応型 高電流対応型 高寿命型

バネ圧 N

0 - 1 1 - 2 2 - 4 4 - 6

ストローク耐久性 回

5,000 - 20,000 20,000 - 100,000 100,000 - 200,000

使用雰囲気温度 ℃

-50 - 0 0 - 50 50 - 100 100 - 150

接触抵抗値 mΩ

50 - 100 100 - 1,000 1,000 - 60,000

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