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製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 プローブシリーズ Pシリーズ-CT-P:020-1150-1000-0150-E:BC-Au-BR-Au
製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 プローブシリーズ Pシリーズ-株式会社シー・シー・ピー・ジャパン

製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 プローブシリーズ Pシリーズ
株式会社シー・シー・ピー・ジャパン



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    製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 プローブシリーズ Pシリーズ

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製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 プローブシリーズ Pシリーズ 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) バレル直径 (mm) 最大長 (mm) バレル長 (mm) 最大ストローク (mm) プランジャーのベース材 プランジャーのメッキ バレルのベース材 バレルのメッキ
製品検査用コンタクトプローブ IC (回路、プリント基板テスト) 用 プローブシリーズ Pシリーズ-品番-CT-P:020-1150-1000-0150-E:BC-Au-BR-Au

CT-P:020-1150-1000-0150-E:BC-Au-BR-Au

要見積もり

0.20~2.36

9.70~38.30

10.00~25.00

1.50~6.60

BC:ベリリウム銅、SK4:高炭素鋼

Au:金、Rh:ロジウム、NA:なし

PB:リン青銅、BR:真鍮

Au:金

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使用用途

#基板検査 #半導体テスト #バッテリー充電 #信号伝送 #通信機器 #電子機器 #高周波測定 #大電流測定 #抵抗測定 #インピーダンス伝送量測定

構造形式

スプリングプローブ型 可動コンタクト型

特性

高周波対応型 高電流対応型 高寿命型

バネ圧 N

0 - 1 1 - 2 2 - 4 4 - 6

ストローク耐久性 回

5,000 - 20,000 20,000 - 100,000 100,000 - 200,000

使用雰囲気温度 ℃

-50 - 0 0 - 50 50 - 100 100 - 150

接触抵抗値 mΩ

50 - 100 100 - 1,000 1,000 - 60,000

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