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IONTOF 飛行時間型二次イオン質量分析計 (TOF-SIMS) TOF.SIMS M6-TOF.SIMS M6
IONTOF 飛行時間型二次イオン質量分析計 (TOF-SIMS) TOF.SIMS M6-株式会社堀科学

IONTOF 飛行時間型二次イオン質量分析計 (TOF-SIMS) TOF.SIMS M6
株式会社堀科学



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この製品について

■概要

情報深さが1-2nmと非常に浅く、固体試料の表面や薄膜、界面の詳細情報を得られることに加え、深さ方向の分析にスパッタガンを用いることにより、高精度なデブスプロファイルの取得が可能です。

■特長

・「性能」と「操作性」追求した最新TOF-SIMS ・最高質量分解能:>27,000 (FWHM) 、最小空間分解能:<50nm ・ユーザフレンドリー、多変量解析を統合した専用ソフトウェア ・最大7桁のダイナミックレンジを実現するEDRテクノロジー ・TOFMS/MS対応 ・多様なオプションに対応する高い拡張性

  • シリーズ

    IONTOF 飛行時間型二次イオン質量分析計 (TOF-SIMS) TOF.SIMS M6

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IONTOF 飛行時間型二次イオン質量分析計 (TOF-SIMS) TOF.SIMS M6 品番1件

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TOF.SIMS M6

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使用用途

#医薬品分析 #食品検査 #環境測定 #材料評価 #半導体分析 #生体分子解析 #化学反応解析 #微量成分測定 #汚染物質検出 #メタボローム解析

測定方式

四重極型 トリプル四重極型 磁気分析型

出力方式

デジタル出力型 アナログ出力型 自動解析型 グラフ表示型

質量範囲 amu

1 - 10 10 - 100 100 - 200 200 - 300 300 - 500 500 - 1,100

ダイナミックレンジ 桁

5 - 6 6 - 7

到達圧力 nPa

10 - 100 100 - 10,000

イオン源

CI EI PI

検出器

ファラデーカップ 二次電子増倍管

質量数範囲 amu

1 - 100 100 - 200 200 - 300

電源 V

100 - 150 150 - 200 200 - 250

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

株式会社堀科学は1999年創業の科学機器の専門商社です。 主な取り扱い製品は、X線を用いた分析装置、電子顕微鏡などの分析装置をはじめ、熱処理を行う実験炉などの設備、試料を調整するための研磨を行う研磨機、実験室や工場で用...

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  • 本社所在地: 岡山県
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