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半導体評価装置 光学特性測定用マニュアルプローバー MMP-ILS01取扱企業
株式会社睦コーポレーションカテゴリ
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 試料ステージ部 試料サイズ | 試料ステージ部 測定面プレート材料 | 試料ステージ部 試料台ストローク | 試料ステージ部 ハンドル1回転の移動量 | マニュピレータ部 プローブ針 | マニュピレータ部 ストローク | マニュピレータ部 移動量 | マニュピレータ部 キャリア | マニュピレータ部 マニュピレータ数量 | マニュピレータ部 リングプレート 材質 | 下部検出ステージ部 検出器切替ストローク | 下部検出ステージ部 位置決め移動量 | 下部検出ステージ部 位置決めマイクロメータ最小読取 | 上部検出ステージ部 位置決め移動量 | 上部検出ステージ部 位置決めマイクロメータ最小読取 | 上部検出ステージ部 数量 | 光強度検出器 感度波長範囲 | 光強度検出器 受光面サイズ | 光強度検出器 受光感度 | 光強度検出器 信号出力 | 光強度検出器 検出ヘッド数量 | 光強度検出器 電源容量 | スペクトル測定用ファイバプローブ ファイバ種類 | スペクトル測定用ファイバプローブ 波長範囲 | スペクトル測定用ファイバプローブ コア径 | スペクトル測定用ファイバプローブ ファイバ端末 | スペクトル測定用ファイバプローブ 数量 | 顕微鏡部 観察倍率 | 顕微鏡部 ズーム比 | 顕微鏡部 観察範囲 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
MMP-ILS01 |
要見積もり |
30mmφ以下 |
合成石英 |
X軸:60mm Y軸:100mm |
X軸:粗動20mm 微動 約2.6mmY軸:粗動18mm 微動 約2.3mm |
タングステンカーバイト針 |
X、Y、Z軸各10mm |
X、Y、Z軸各500μm/回転 |
着磁性プレート付 |
3台 |
着磁性SUS |
60mm |
XY軸:13mm Z軸:10mm |
10μm目盛 |
XY軸:13mm Z軸:10mm |
10μm目盛 |
2台 |
190~1,100nm |
10×10mm |
0.12A/W (typ @200nm) |
100,000V/A,76,700V/A,50,000V/A,24,800V/A,10,700V/A (typ) 切替 |
上部 1個/下部 1個 |
AC100V 0.6A |
純粋石英SI |
200nm~900nm |
600μm |
上部ファイバ:片端φ3mm×30mmスリーブ |
上部 1本/下部 1本 |
7X~115X |
16.4 |
φ31.4~φ1.9mm |
プローバーをフィルターから探すことができます
使用用途
#RF測定 #インピーダンス測定 #オプトエレクトロニクス測定 #サブテラヘルツ測定 #ハイパワー測定 #ロードプル測定 #温度特性評価 #故障解析 #信頼性試験 #微小電流測定接触方式
メカニカルコンタクト型 マイクロコンタクト型操作方式
手動型 半自動型対応ウェーハサイズ
小型対応型 中型対応型 大型対応型プローブユニット構成
マルチプローブ型 プローブカード型対応ウエハサイズ mm
100 - 150 150 - 200システム重量 kg
700 - 800 800 - 900 900 - 1,100
