レーザ計測用InGaAs高分解能SWIR検出器 ISA041HRA/GL-ISA041HRA/GL

レーザ計測用InGaAs高分解能SWIR検出器 ISA041HRA/GL
シナジーオプトシステムズ株式会社

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この製品について

■概要レーザ計測用InGaAs高分解能SWIR検出器ISA041HRA/GLは、400nm～1,700nmの可視~短波赤外波長域に広い感度波長域を有するカバーガラスレス型・SXGA画素・高分解能InGaAs固体撮像素子内蔵のレーザ計測用SWIR検出器です。

撮像素子には、セルピッチ5μm角・1,280×1,040画素の1/2インチのカバーガラスレス型InGaAs2次元固体撮像素子を使用しています。カバーガラスレス型InGaAs撮像素子を使用することで、狭線幅レーザビーム計測時に撮像素子のカバーガラス部分で発生する干渉の影響を抑制します。

また、可視域から短波赤外域まで広い感度波長域と高い解像度を有し、幅広い波長域でのレーザビームプロファイル計測に最適です。可視~短波赤外域での汎用高精細画像観察用途から、光通信用レーザダイオード・光ファイバ・光導波路・シリコンフォトニクスデバイス等光通信用各種光デバイス・光モジュールの発光ビームプロファイル計測・解析まで幅広い応用が可能です。

当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズや、光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、光ビーム観察や光ビームプロファイル計測を高い分解能で実現できます。

■特長・カバーガラスレス型1/2インチ高分解能InGaAs固体撮像素子内蔵。狭線幅レーザのビームプロファイル計測に最適。センサーピッチ5μm角・1,280 (H) ×1,024 (V) 画素・有効素子サイズ 6.4mm (H) ×5.12mm (V) ・カバーガラスレス型1/2インチ高解像度InGaAs固体撮像素子を内蔵。可視~短波赤外域での高精細画像観察・高分解能画像解析が可能です。
・400nm-1,700nmの可視~短波赤外波長域を高い感度でカバー。可視~短波赤外域の広い波長域での画像観察や画像処理解析が可能です。
・優れた光入出力特性。光入力に対する信号出力特性はほぼリニアです。レーザビームプロファイル計測等光強度分布測定にも適しています。
・優れた残像特性。過大光量入力に対する残像や焼付の心配がありません。画像による位置合わせや監視等、動きのある画像観察や画像処理にも最適です。
・Gigabit Ethernet (1000BASE-T) インターフェイス

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
レーザ計測用InGaAs高分解能SWIR検出器 ISA041HRA/GL

取扱企業
シナジーオプトシステムズ株式会社

カテゴリ

測定機器

光学測定器

カメラ

SWIRカメラ

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レーザ計測用InGaAs高分解能SWIR検出器 ISA041HRA/GL 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	検出素子	検出波長域	画素数	センサーピッチ	有効素子サイズ	素子冷却	カメラインターフェイス	シャッター	フレームレート	露光時間	S/N比	マウント	消費電力	主電源定格電圧	推奨動作周囲温度	動作周囲温度/動作周囲湿度	保存周囲温度/保存周囲湿度
	ISA041HRA/GL	要見積もり	カバーガラスレス型1/2インチInGaAs2次元固体撮像素子	400nm - 1,700nm	1,280 (H) x 1,024 (V) 画素	5μm (H) x 5μm (V)	6.4mm (H) × 5.12mm (V)	非冷却	Gigabit Ethernet (1000BASE-T)	グローバルシャッター	30.0 fps (12bit) / 60.0 fps (8bit)	12bit: 13μsec ~ 10msec (13μsec ~ 9.99sec 設定可能)	52dB	Cマウント	約5W (typ.) *DC+12V時	DC +12V ~ +24V ±1V	25℃ ±3℃	0℃ ~ +45℃ / 20% ~ 80% (結露しないこと)	-15℃ ~ +65℃ / 20% ~ 80% (結露しないこと)