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InGaAs高分解能SWIR検出器 ISA041HRA-ISA041HRA
InGaAs高分解能SWIR検出器 ISA041HRA-シナジーオプトシステムズ株式会社

InGaAs高分解能SWIR検出器 ISA041HRA
シナジーオプトシステムズ株式会社



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この製品について

■概要

InGaAs高分解能SWIR検出器ISA041HRAは、400nm~1,700nmの可視~短波赤外波長域に広い感度波長域を有するSXGA高分解能型InGaAs固体撮像素子内蔵のSWIR検出器です。撮像素子には、セルピッチ5μm角・1,280×1,040画素の1/2型InGaAs2次元固体撮像素子を使用しています。可視域から短波赤外域まで広い感度波長域と高い解像度を有します。 可視~短波赤外域での汎用高精細画像観察用途から、光通信用レーザダイオード・光ファイバ・光導波路・シリコンフォトニクスデバイス等光通信用各種光デバイス・光モジュールの発光ビームプロファイル計測・解析まで幅広い応用が可能です。当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズや、光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、光ビーム観察や光ビームプロファイル計測を高い分解能で実現できます。

■特長

・400nm-1,700nmの可視~短波赤外波長域を高い感度でカバー。可視~短波赤外域の広い波長域での画像観察や画像処理解析が可能です。 ・1/2型高分解能InGaAs固体撮像素子内蔵。センサーピッチ5μm角・1,280 (H) ×1,024 (V) 画素・有効素子サイズ 6.4mm (H) ×5.12mm (V) ・1/2型高解像度InGaAs固体撮像素子を内蔵。可視~短波赤外域での高精細画像観察・高分解能画像解析が可能です。 ・優れた光入出力特性。光入力に対する信号出力特性はほぼリニアです。レーザビームプロファイル計測等光強度分布測定にも適しています。 ・優れた残像特性。過大光量入力に対する残像や焼付の心配がありません。画像による位置合わせや監視等、動きのある画像観察や画像処理にも最適です。 ・Gigabit Ethernet (1000BASE-T) インターフェイス。PCとの接続はGigabit Ethernetです。ノートPCやデスクトップPCまでさまざまなPC上での使用が可能です。

■主な応用

・光通信デバイスの組立・実装調整用。バタフライモジュール等光通信用デバイスのレンズ調整や実装時のビーム観察 ・シリコンフォトニクスデバイスの光学特性測定や評価 ・通信用受光素子への入射光観察や位置調整 ・半導体デバイス検査への応用。シリコン・化合物半導体系ウエハ・デバイスの検査や品質評価、故障解析等

  • シリーズ

    InGaAs高分解能SWIR検出器 ISA041HRA

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InGaAs高分解能SWIR検出器 ISA041HRA 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 検出素子 検出波長域 画素数 センサーピッチ 有効素子サイズ ペルチェ冷却設定温度 カメラインターフェイス シャッター フレームレート 露光時間 S/N比 マウント 消費電力 主電源定格電圧 推奨動作周囲温度 動作周囲温度/動作周囲湿度 保存周囲温度/保存周囲湿度
InGaAs高分解能SWIR検出器 ISA041HRA-品番-ISA041HRA

ISA041HRA

要見積もり

1/2型InGaAs2次元固体撮像素子

400nm - 1,700nm

1,280 (H) x 1,024 (V) 画素

5μm (H) x 5μm (V)

6.4mm (H) × 5.12mm (V)

15℃

Gigabit Ethernet (1000BASE-T)

グローバルシャッター

30.0 fps (12bit) / 60.0 fps (8bit)

6μsec ~ 10msec
(6μsec ~ 9.99sec 設定可能)

54dB

Cマウント

約7W

DC +12V ~ +24V ±1V

25℃ ±3℃

0℃ ~ +45℃ / 20% ~ 80%
(結露しないこと)

-15℃ ~ +65℃ / 20% ~ 80%
(結露しないこと)

フィルターから探す

光学測定器をフィルターから探すことができます

使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法 反射法 透過法

機能

三次元測定 高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存 件

50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000

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