InGaAs高感度SWIR検出器 ISA041H2
シナジーオプトシステムズ株式会社

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この製品について

■概要InGaAs高感度SWIR検出器ISA041H2は、950nm～1,700nmの短波赤外波長域に高い感度を有するInGaAs固体撮像素子内蔵のSWIR検出器です。撮像素子には、セルピッチ20μm角・320×256画素のInGaAs2次元固体撮像素子を使用しています。

特に、1,300nm～1,500nmの光通信波長帯に高い感度を有し、光入出力特性の直線性や残像特性に優れています。さらに、冷却 (＋10℃) による高い安定性が特長です。

光通信用レーザダイオード・光ファイバ・光導波路・シリコンフォトニクスデバイス等光通信用各種光デバイス・光モジュールの発光ビームプロファイル計測・解析や、半導体デバイスの内部観察に適しています。当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズや、光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、光ビーム観察や光ビームプロファイル計測の幅広い用途に応用が可能です。

■特長・950nm-1,700nmの短波赤外波長域を高い感度でカバー。InGaAs固体撮像素子を使用。光通信波長帯の1,300nm～1,500nm波長域で非常に高い感度を有します。
・センサーピッチ20μm
・＋10℃強制空冷による高安定性・低ノイズ。
・優れた光入出力特性。光入力に対する信号出力特性はほぼリニアです。これにより、レーザビームプロファイル計測等光強度分布測定に最適です。
・優れた残像特性。過大光量入力に対する残像や焼付の心配がありません。赤外ビームの位置合わせや監視等、動きのある画像観察や画像処理にも最適です。
・USB出力。USB3.0出力のため、ノートPCやデスクトップPCまで、さまざまなPC上での使用が可能です。

■主な応用・光通信デバイスの組立・実装調整用。バタフライモジュール等光通信用デバイスのレンズ調整や実装時のビーム観察
・シリコンフォトニクスデバイスの光学特性測定や評価
・通信用受光素子への入射光観察や位置調整
・半導体デバイス検査への応用。シリコン・化合物半導体系ウエハ・デバイスの検査や品質評価、故障解析等
・その他、汎用赤外画像観察・画像処理への応用
・各種光通信デバイスの光ビーム観察・解析・評価。光通信用半導体レーザのNFP/FFP観察・計測等の光ビームプロファイル観察・解析

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
InGaAs高感度SWIR検出器 ISA041H2

取扱企業
シナジーオプトシステムズ株式会社

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InGaAs高感度SWIR検出器 ISA041H2 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	検出素子	検出波長域	画素数	センサーピッチ	有効素子サイズ	冷却温度	カメラインターフェイス	画像補正 (キャリブレーション)	読み出し速度	露光時間	ADC	マウント	消費電力	電源	動作周囲温度/動作周囲湿度	保存周囲温度/保存周囲湿度
	ISA041H2	要見積もり	InGaAs2次元固体撮像素子	950nm - 1,700nm	320 (H) x 256 (V) 画素	20μm (H) x 20μm (V)	6.4mm (H) × 5.12mm (V)	10℃ (強制冷却、周囲温度：＋25℃)	USB3.0 (コネクタ仕様：USB3.0 microB type)	検出器内部で補正	ローリングシャッタ 216.6フレーム/秒グローバルシャッタ 214.3フレーム/秒	ローリングシャッタ 4.6ms - 1s グローバルシャッタ 100μs - 1s	14 bit	Cマウント	約16W	DC +12V	0℃ - +40℃ / 30% - 80% (結露しないこと)	-10℃ - +50℃ / - 90% (結露しないこと)