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高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF-M-Scope type HF
高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF-シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF
シナジーオプトシステムズ株式会社



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この製品について

■概要

高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFは、出力~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布 (ファーフィールドパターン) 計測用光学系です。専用設計の高出力レーザ計測対応FFP計測光学系+2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布 (FFP:ファーフィールドパターン) をリアルタイムで取得・測定可能です。 計測対象光束径を約3mmφまで拡大、大発光面積のレーザ素子や大口径ファイバ等の半導体レーザ等のFFP計測・出射N.A.計測に対応できます。当社製光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、光パワー分布解析への応用も可能です。

■特長

・出力~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布 (FFP) をリアルタイム測定 ・レンズ後方2段ビームサンプラ―と減光フィルタの組合せにより高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ・計測対象光束径約3mmφ、計測角度範囲約±43°の計測対象エリア拡大型 ・FFP測定専用光学系+画像処理方式によるFFP (ファーフィールドパターン) 像のリアルタイム計測 ・長作動距離設計。ワーキングディスタンスは約4mmを確保。 ・当社製光ビーム解析モジュールAP013との併用により、光強度分布解析・幅計測の他、光パワー分布解析も可能。高出力レーザFFP計測システムの構築が容易に可能。

■主な応用

・高出力レーザ・高出力レーザモジュールの放射角度分布 (FFP) 計測・解析 ・LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発 ・生体認証用レーザモジュールの開発 ・その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析

  • シリーズ

    高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF

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高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 計測方式 測定対象入射パワー 測定対象光束径 計測対応波長域 ワーキングディスタンス 減光方式 カメラマウント
高出力レーザ用FFP計測光学系 M-Scope type HF-品番-M-Scope type HF

M-Scope type HF

要見積もり

専用光学系 (高出力レーザ計測対応f-θレンズ光学系) 方式

~10W (応相談)

約3mmφ

M-Scope type HF/NIR:850nm~940nm
ビームサンプラによる減光を行う構造のため計測波長は限定されます。

約4mm±0.4mm
(設計値 約4.35mm±0.4mm、但し、測定サンプルサイズに依存します)

フィルタポートへの減光フィルタ (NDフィルタ) 挿入方式
( 専用 φ35mmNDフィルタ、最大2枚まで同時挿入可能)

Cマウント

フィルターから探す

光学測定器をフィルターから探すことができます

使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法 反射法 透過法

機能

三次元測定 高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存 件

50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000

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