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高出力レーザ用NFP計測光学系 M-Scope type HL-M-Scope type HL
高出力レーザ用NFP計測光学系 M-Scope type HL-シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用NFP計測光学系 M-Scope type HL
シナジーオプトシステムズ株式会社



無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
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この製品について

■概要

高出力レーザ用NFP計測光学系M-Scope type HLは、出力~10Wクラス高出力レーザの発光ビームプロファイル計測に最適な、高出力レーザ計測対応レーザビームプロファイラ用光学系です。計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に計測することができます。 検出器の選択は、弊社光センサラインナップの中から、測定波長や要求分解能にあわせて各種選択が可能です。また、当社光ビーム計測モジュールAP013との組み合わせによる高出力レーザ用レーザビームプロファイラ・NFP計測システムの構築が容易に可能です。

■特長

・対物レンズ前段ビームサンプラーと減光フィルタにより高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ・最大20倍の観察光学倍率 (オプションの2倍中間レンズポート×対物レンズ10倍仕様時) ・同軸落射照明ポートを標準装備。同軸落射照明装置 (オプション) との組合せで顕微鏡画像観察・実像による位置合わせが可能。 ・当社製光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高出力レーザNFP計測システムの構築が容易に可能。

■主な応用

・出力~10Wクラス高出力レーザ用レーザビームプロファイラ ・高出力レーザ・高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析 ・LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発 ・生体認証用レーザモジュールの開発 ・その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析

  • シリーズ

    高出力レーザ用NFP計測光学系 M-Scope type HL

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高出力レーザ用NFP計測光学系 M-Scope type HL 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 方式 測定対応波長 測定可能入射光量 減光方式 対物レンズ倍率 N.A. 中間レンズ倍率 最大光学倍率 落射照明ポート カメラマウント
高出力レーザ用NFP計測光学系 M-Scope type HL-品番-M-Scope type HL

M-Scope type HL

要見積もり

対物レンズ前1段ビームサンプラー搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式

400nm-1,100nmの計測対応波長範囲から計測波長を選択

~10W (標準) (応相談)

ビームサンプラーにより約5%の反射光を光学系に導入、
およびフィルタポートへの減光フィルタ挿入併用方式

10倍

0.28

1倍 (標準) 、
2倍 (オプションの中間レンズ2倍仕様時)

標準:10倍 (10倍対物レンズ仕様時)
オプション:20倍 (10倍対物レンズ+中間レンズ2倍仕様時)

オプション (外形φ8mm、ハーフミラー着脱式) 、
同軸落射照明装置は別売

Cマウント

フィルターから探す

光学測定器をフィルターから探すことができます

使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法 反射法 透過法

機能

三次元測定 高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存 件

50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000

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