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赤外高分解能型FFP計測光学系 M-Scope type FHR-M-Scope type FHR
赤外高分解能型FFP計測光学系 M-Scope type FHR-シナジーオプトシステムズ株式会社

赤外高分解能型FFP計測光学系 M-Scope type FHR
シナジーオプトシステムズ株式会社



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この製品について

■概要

赤外高分解能型FFP計測光学系M-Scope type FHRは、光学系+画像処理方式による放射角度 (FFP:ファーフィールドパターン) 計測光学系です。専用光学系+2次元画像検出器により、リアルタイムで放射角度分布像の取得が可能です。InGaAs高感度SWIR検出器ISA041VHとの組合せにより、光通信波長帯の1,310-1,550nm帯で計測角度画素分解能0.1°の高精度FFP計測が可能です。 光ファイバや光導波路等の各種光通信用デバイス・光モジュール、Siフォトニクスデバイスの高精度FFP計測や出射N.A.計測に応用可能です。当社製光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。

■特長

・赤外域用高分解能型FFP測定光学系+画像処理方式によるFFP (ファーフィールドパターン) のリアルタイム計測 ・FFP測定専用光学系+画像処理方式によるFFP (ファーフィールドパターン) のリアルタイム計測 ・長作動距離設計。約6mmのワーキングディスタンスを確保 ・検出器はVGA型InGaAs高感度SWIR検出器ISA041VHを使用 ・計測角度範囲:約±32° (H) × ±25.6° (V) ・計測角度画素分解能:0.1°の高分解能

■主な応用

・赤外半導体レーザや各種赤外レーザデバイスのFFP計測 ・出射N.A.計測 ・光通信用光ファイバのFFP計測 ・出射N.A.計測 ・光導波路のFFP計測 ・出射N.A.計測 ・SiフォトニクスデバイスのFFP計測 ・出射N.A.計測 ・光通信帯各種光モジュール・光学モジュールのFFP計測 ・出射N.A.計測

  • シリーズ

    赤外高分解能型FFP計測光学系 M-Scope type FHR

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赤外高分解能型FFP計測光学系 M-Scope type FHR 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 計測方式 測定対象光束径 計測対象波長 ワーキングディスタンス 減光方式 カメラマウント
赤外高分解能型FFP計測光学系 M-Scope type FHR-品番-M-Scope type FHR

M-Scope type FHR

要見積もり

専用光学系 (f-θレンズ光学系) 方式

約1mmφ

1,310-1,550nm帯

約6mm±0.8mm

フィルタポートへの減光フィルタ (NDフィルタ) 挿入方式
(最大2枚まで同時挿入可能)

Cマウント

フィルターから探す

光学測定器をフィルターから探すことができます

使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法 反射法 透過法

機能

三次元測定 高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存 件

50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000

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