FFP計測光学系 M-Scope type F
シナジーオプトシステムズ株式会社

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この製品について

■概要FFP計測光学系M-Scope type Fは、光学系+画像処理方式による放射角度 (FFP:ファーフィールドパターン) 計測光学系です。専用光学系＋2次元画像検出器により、リアルタイムで放射角度分布像の取得が可能です。

半導体レーザ等の各種発光デバイス、光ファイバや光導波路等の各種光デバイス・光モジュールのFFP計測や出射N.A.計測に応用可能です。当社製光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、SI型マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス解析にも応用可能です。

■特長・FFP測定専用光学系＋画像処理方式によるFFP (ファーフィールドパターン) のリアルタイム計測が可能
・長作動距離設計。約6mmのワーキングディスタンスを確保
・検出器の選択により、400nmから1,700nm波長域の光ビーム観察・光ビームプロファイル計測解析が可能
・当社製光ビーム解析モジュールAP013との併用により、エンサークルドアンギュラーフラックス解析に対応。

■主な応用・半導体レーザや各種レーザデバイスのFFP計測 ・出射N.A.計測
・各種光ファイバのFFP計測 ・出射N.A.計測
・シングルモード光導波路やSiフォトニクス光導波路出射光のFFP計測 ・出射N.A.計測
・光配線導波路のFFP計測 ・出射N.A.計測
・各種光モジュール・光学モジュールののFFP計測 ・出射N.A.計測
・SI型マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス計測

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
FFP計測光学系 M-Scope type F

取扱企業
シナジーオプトシステムズ株式会社

カテゴリ

測定機器

光学測定器

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FFP計測光学系 M-Scope type F 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	計測方式	測定対象光束径	光学系セレクション (計測波長帯による)	ワーキングディスタンス	減光方式	カメラマウント
	M-Scope type F	要見積もり	専用光学系 (f-θレンズ光学系) 方式	約1mmφ	計測波長　650-1,700nm帯用 : M-Scope type F 計測波長　400-650nm帯用 : M-Scope type F/BL	約6mm±0.8mm	フィルタポートへの減光フィルタ (NDフィルタ) 挿入方式 (最大2枚まで同時挿入可能)	Cマウント