高機能NFP計測光学系 M-Scope type S-M-Scope type S

高機能NFP計測光学系 M-Scope type S
シナジーオプトシステムズ株式会社

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この製品について

■概要高機能NFP計測光学系M-Scope type Sは、半導体レーザ等の各種発光デバイス、光ファイバや光導波路等の各種光デバイス・光モジュールの発光ビームパターン観察、NFP計測、光ビームプロファイル計測解析用の高機能光学系です。400~1,700nm波長帯のレーザビームプロファイラに最適な高機能光学系です。

手動レボルバを搭載し、観察用対物レンズ倍率の変更が容易に可能です。また、同軸落射照明ポート・同軸落射照明装置 (オプション) を装備すれば、光ファイバや光導波路の端面・LDチップ面の顕微鏡画像観察等の実像観察が可能です。

光ビーム観察・光ビームプロファイル計測解析から、各種光デバイスの組立調整等幅広く応用が可能です。また、当社光ビーム計測モジュールAP013との組み合わせによる高機能レーザビームプロファイラ・NFP計測システムの構築が可能です。

■特長・手動4穴対物レンズレボルバを標準装備。最大4本の対物レンズ倍率切替が容易に可能
・最大200倍の観察光学倍率 (*オプションの2倍中間レンズポートと対物レンズ100倍の組み合わせ使用時) 
・着脱式落射照明ポート (オプション) を準備。同軸落射照明装置 (オプション) との組合せで顕微鏡画像観察・実像による位置合わせが可能。
・検出器の選択により、400nmから1700nm波長域の光ビーム観察・光ビームプロファイル計測解析が可能
・当社製光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高機能NFP計測システムが構築可能。エンサークルドフラックス解析にも対応。

■主な応用・400~1,700nm波長帯用高機能レーザビームプロファイラ
・各種発光素子の発光ビームプロファイル計測 ・NFP計測
・半導体レーザやレーザデバイス、各種光ファイバ、各種光導波路、光モジュール、光学モジュール等
・Siフォトニクスデバイスの研究開発
・光配線基板やポリマー光導波路、光コネクタ等の研究開発
・GI型マルチモード光ファイバのエンサークルドフラックス計測
・その他、可視~近赤外域の汎用ビームプロファイル計測一般

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
高機能NFP計測光学系 M-Scope type S

取扱企業
シナジーオプトシステムズ株式会社

カテゴリ

測定機器

光学測定器

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高機能NFP計測光学系 M-Scope type S 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	対物レンズ切替	対物レンズ	中間レンズ倍率	最大光学倍率	着脱式同軸落射照明ポート	減光方式	カメラマウント
	M-Scope type S	要見積もり	手動4穴レボルバによる (対物レンズ4本同時装着可能)	ミツトヨ製M-Plan Apoシリーズに対応 (標準)	1倍 (標準) 、2倍または1/2倍 (オプション)	標準：100倍 (100倍対物レンズ仕様時) オプション：200倍 (対物レンズ100倍×中間レンズ2倍仕様時)	オプション (外形φ8mm、ハーフミラー着脱式) 同軸落射照明装置は別売	フィルタポートへの減光フィルタ (NDフィルタ) 挿入方式 (最大2枚まで同時挿入可能)	Cマウント