偏光依存性対策型高機能光計測用光学系 M-Scope type I/PF-M-Scope type I/PF

偏光依存性対策型高機能光計測用光学系 M-Scope type I/PF
シナジーオプトシステムズ株式会社

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この製品について

■概要測定光の導入・照射にシングルモード光ファイバを使用した計測を行う場合、外部環境の影響により、光ファイバに曲げや圧力等の応力がかかることで、シングルモードファイバ内部で偏光状態が変化することがあります。

光路2分岐・3分岐光学系で光路分岐用にハーフミラー (HM) を使用する場合、ハーフミラー (HM) の偏光依存性の影響で、偏光状態が変化することによる計測系全体での測定精度の安定性が悪化することがあります。M-Scope type I/PFは、特殊なHMの配置構造をとることにより偏光の影響を除去、偏光特性を有するサンプル計測時でも安定した高い精度での計測を実現した光学系です。

■ハーフミラーの偏光依存性補償光路分岐に使用されるハーフミラーは偏光方向 により透過率と反射率が異なります。このため、 測定光の照射や受光の際の偏光状態が測定に影響 を与えることがあります。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
偏光依存性対策型高機能光計測用光学系 M-Scope type I/PF

取扱企業
シナジーオプトシステムズ株式会社

カテゴリ

測定機器

光学測定器

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使用用途

#表面検査 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法反射法透過法

機能

三次元測定高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000

データ保存件

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本社所在地: 静岡県

偏光依存性対策型 高機能光計測用光学系 M-Scope type I/PF シナジーオプトシステムズ株式会社

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■概要

■ハーフミラーの偏光依存性補償

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