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高機能光計測用光学系 M-Scope type I-M-Scope type I
高機能光計測用光学系 M-Scope type I-シナジーオプトシステムズ株式会社

高機能光計測用光学系 M-Scope type I
シナジーオプトシステムズ株式会社



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この製品について

■概要

高機能光計測用光学系 (光照射・受光計測用光学系) M-Scope type Iは、光照射・受光計測・光ビームプロファイル計測等の多目的な光応用計測用に設計された高機能光学系です。光計測用光ファイバ接続ポートと画像処理解析用画像検出器接続ポートを搭載し、複数の光計測を同一光学系で実現できます。 また、目的に応じたさまざまな光学計測用コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目・計測タクト等、使用目的にあわせた光学計測ユニットを容易に構築することが可能です。光学系は、測定対象や測定波長にあわせて最適なレンズやミラーを選択・装着することができます。これにより、最適な光学条件で各種測定を行うことが可能です。 受光素子やセンサの光入射測定、発光素子の受光測定、光ビームプロファイル測定等の光計測から、バイオ細胞への微小光ビーム照射等、幅広い分野・用途への応用が可能です。高機能光計測用光学系には、標準型のM-Scope type I・偏光依存性対策型のM-Scope type I/PFがあります。 特長

■画像検出器接続ポートを搭載。光照射計測時の測定光照射位置や、受光計測時の被測定光計測位置が同軸観察カメラで直接観察可能。また、受光計測時の光ビームプロファイル計測も対応可能

同軸観察カメラポートを搭載しています。サンプルへの測定光照射時には、照射位置を同軸観察することにより、サンプルにピンポイントで確実に測定光を照射できます。また、サンプルからの被測定光受光時には、受光計測位置を同じく同軸観察することにより、測定対象からの光を確実に光ファイバにリレーできます。また、発光状態を直接観察することができますのでビームプロファイル計測等の光ビーム形状計測用途にも使用できます。

■光パラメータ計測用光ファイバ接続ポートを搭載。光ファイバ出力型光源を使用した測定光のサンプルへの導入、測定光を光ファイバへリレーして光ファイバで受光・測定等さまざまな使い方が可能。

・測定光照射計測 被測定サンプル面に測定用光源からの測定光をピンポイントで照射します。 ・測定光受光計測 サンプルからの被測定光を光ファイバにリレーし、パワー・波長・応答等の光特性を測定します。

  • シリーズ

    高機能光計測用光学系 M-Scope type I

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高機能光計測用光学系 M-Scope type I 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 照射・受光径 対物レンズ切替 対物レンズ 観察用カメラポート 中間レンズ倍率 画像検出器接続ポート 最大光学倍率 同軸落射照明ポート 減光方式 カメラマウント
高機能光計測用光学系 M-Scope type I-品番-M-Scope type I

M-Scope type I

要見積もり

10倍対物レンズ使用時:光ファイバコア相当径を1:1で照射・受光
20倍対物レンズ使用時:光ファイバコア相当径の1/2で照射・受光
50倍対物レンズ使用時:光ファイバコア相当径を1/5で照射・受光

手動4穴レボルバによる (対物レンズ4本同時装着可能)

ミツトヨ製M-Plan Apoシリーズに対応 (標準)

1倍 (標準) 、2倍または1/2倍 (オプション)

標準:100倍 (100倍対物レンズ仕様時)
オプション:200倍 (対物レンズ100倍×中間レンズ2倍仕様時)

標準 (外形φ8mm) 、同軸落射照明装置はオプション

フィルタポートへの減光フィルタ (NDフィルタ) 挿入方式
(最大2枚まで同時挿入可能)

Cマウント

フィルターから探す

光学測定器をフィルターから探すことができます

使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法 反射法 透過法

機能

三次元測定 高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存 件

50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000

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